利用对称中心缺陷的红外与激光兼容伪装膜系结构

发明专利有效专利

申请号：
CN202010488270.7
IPC分类号：G02B5/20;B32B9/00;B32B9/04;B32B15/04;B32B7/023;B32B33/00
申请日期：
2020-06-02
申请人：
中国人民解放军火箭军工程大学

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专利名称	利用对称中心缺陷的红外与激光兼容伪装膜系结构
申请号	CN202010488270.7	申请日期	2020-06-02
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2020-08-07	公开/公告号	CN111505757A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G02B5/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G02 光学 G02B 光学元件、系统或仪器（G02F优先；专用于照明装置或系统的光学元件入F21V 1/00至F21V 13/00；测量仪器见G01类的有关小类，例如，光学测距仪入G01C；光学元件、系统或仪器的测试入G01M 11/00；眼镜入G02C；摄影、放映或观看用的装置或设备入G03B；声透镜入G10K 11/30；电子和离子“光学”入H01J；X射线“光学”入H01J，H05G 1/00；结构上与放电管相组合的光学元件入H01J 5/16，H01J 29/89，H01J 37/22；微波“光学”入H01Q；光学元件与电视接收机的组合装置入H04N 5/72；彩色电视系统中的光学系统或装置入H04N 9/00；专门适用于透明或反射区的加热装置入H05B 3/84）〔1，7〕 G02B5/00 除透镜外的光学元件（光波导入G02B 6/00；光学逻辑元件入G02F 3/00）〔4〕 G02B5/20 滤光片（偏振元件入G02B 5/30；特别用于摄影目的滤光片入G03B 11/00）	IPC分类号	G;0;2;B;5;/;2;0;;;B;3;2;B;9;/;0;0;;;B;3;2;B;9;/;0;4;;;B;3;2;B;1;5;/;0;4;;;B;3;2;B;7;/;0;2;3;;;B;3;2;B;3;3;/;0;0查看分类表>
申请人	中国人民解放军火箭军工程大学	申请人地址	陕西省西安市灞桥区同心路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国人民解放军火箭军工程大学	当前权利人	中国人民解放军火箭军工程大学
发明人	王龙;汪刘应;唐修检;刘顾;阳能军;田欣利;赵文博
代理机构	济南光启专利代理事务所（普通合伙）	代理人	赵文成

摘要

本发明公开了一种利用对称中心缺陷含二维半导体材料的红外与激光兼容伪装膜系结构：B[AB]nT[BA]nB，A、B膜层为固态材料层，固态材料选自ZnS、ZnSe、PbTe、Al2O3、Te、Ge、Si、SiO2、TiO2、Si3N4、MgF2、PbF2中的任意一种或两种以上；若A、B两膜层介质的折射率分别为nA、nB，单膜层厚度分别为dA、dB，则存在关系：nAdA≈nBdB≈2650nm，且nAdA+nBdB＝5300nm；所述T为中心缺陷膜层，T膜层厚度dT≤10nm。本发明具备3～5μm与8～14μm双红外波段高反射，并在10.6μm激光附近频域形成“挖孔”现象，急剧减小呈现低反射率的光子局域特性，从而具备红外与激光兼容伪装功能，性能优异，膜系结构简单，为规避红外与激光复合模式的联合探测的光学综合伪装防护需求提供了解决方案。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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