随机存储器失效的检测处理方法及其系统

发明专利有效专利

申请号：
CN200610001749.3
IPC分类号：G11C29/00;G06F11/28
申请日期：
2006-01-25
申请人：
华为技术有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	随机存储器失效的检测处理方法及其系统
申请号	CN200610001749.3	申请日期	2006-01-25
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2006-10-25	公开/公告号	CN1851826
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;0;0;;;G;0;6;F;1;1;/;2;8查看分类表>
申请人	华为技术有限公司	申请人地址	广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华为技术有限公司	当前权利人	华为技术有限公司
发明人	李强
代理机构	北京同达信恒知识产权代理有限公司	代理人	郭润湘

摘要

本发明公开了一种RAM失效的检测处理方法，应用于对CPU/DSP的RAM失效的检测处理，包括：读取所述RAM中的程序内容；若所述RAM可被CPU/DSP的高层控制实体访问，则由所述高层控制实体将读取的程序内容与正确的程序内容进行比对，当两者不一致时，判断RAM失效并进行数据修复；若所述RAM不能被CPU/DSP的高层控制实体访问，则由所述CPU/DSP将读取的程序内容采用设定的校验方法进行数据校验，并与正确的校验结果进行比对，当两者不一致时，判断RAM失效并报警。采用本发明方法，可及时检测CPU/DSPRAM失效的情况，及时采取相应的处理措施，将RAM失效引起的影响降到最低。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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