一种粗精测尺差频调制与解调的相位激光测距装置与测距方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110925287.9
IPC分类号：G01S17/36
申请日期：
2021-08-12
申请人：
哈尔滨工业大学

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专利名称	一种粗精测尺差频调制与解调的相位激光测距装置与测距方法
申请号	CN202110925287.9	申请日期	2021-08-12
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-11-19	公开/公告号	CN113671521A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01S17/36 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01S 无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置 G01S17/00 应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统，例如，激光雷达系统〔3〕 G01S17/02 应用除无线电波外的电磁波反射的系统（G01S 17/66优先）〔3〕 G01S17/06 测定目标位置数据的系统〔3〕 G01S17/08 只用于测量距离（间接测量入G01S 17/46；有源三角测量系统入G01S 17/48；）〔3，8〕 G01S17/32 应用了连续的未调制波，调幅、调频或调相波的发射〔3〕 G01S17/36 在接收信号与同时发射信号之间作相位比较〔3〕	IPC分类号	G;0;1;S;1;7;/;3;6查看分类表>
申请人	哈尔滨工业大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	哈尔滨工业大学	当前权利人	哈尔滨工业大学
发明人	杨宏兴;李婧;胡鹏程;邢旭;谭久彬
代理机构	哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司	代理人	张宏威

摘要

本发明是一种粗精测尺差频调制与解调的相位激光测距装置与测距方法。本发明测距装置包括多频率发生模块、激光调制模块、测量光路和光信号接收及处理模块；测距方法开启激光器和多频率发生模块；激光经过调制产生精测尺c/v1、次级粗测尺c/v2和粗测尺c/f，其中通过频率为v3和v3+f信号进行差频调制产生粗测尺c/f；激光分成参考光和测量光并测距；对精测尺进行频率为v1‑f1的差频解调并探测差频信号f1获取精测结果，探测次级粗测尺c/v2和粗测尺c/f并获取相位，合成相位差数据得到被测距离。本发明打破了激光干涉相干长度、探测器件带宽、调制带宽的限制，可实现在未来数十万千米的测量范围需求中达到亚毫米甚至微米级的精确测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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