一种带旋转触点的快接导电端子测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN202022854182.2
IPC分类号：G01R1/04
申请日期：
2020-12-01
申请人：
无锡凌博电子技术有限公司

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专利名称	一种带旋转触点的快接导电端子测试装置
申请号	CN202022854182.2	申请日期	2020-12-01
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/04 外壳；支承构件；端子装置	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	无锡凌博电子技术有限公司	申请人地址	江苏省无锡市绣溪路59-10号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	无锡凌博电子技术有限公司	当前权利人	无锡凌博电子技术有限公司
发明人	季新华;马柏华;杨赛
代理机构	无锡华源专利商标事务所（普通合伙）	代理人	聂启新

摘要

本实用新型公开了一种带旋转触点的快接导电端子测试装置，涉及电连接器领域，包括导电端体、活动件、连接器和导线，连接器包括第一柱体和第二柱体，活动件形成有第一通腔和第二通腔，第一柱体的一端固定连接到导电端体，第一柱体的另一端穿过第一通腔，第二柱体安装在第二通腔中，第一柱体的直径小于第一通腔的直径，第一通腔的直径小于第二柱体的直径，第二柱体的直径小于第二通腔的直径，活动件的上表面和导电端体的下表面中的一个形成有凸半球面，活动件的上表面和导电端体的下表面中的另一个形成有凹半球面，凸半球面与凹半球面相接触，通过活动件构成一个旋转触点，保证活动件与接线柱接触面积最大化，避免出现闪络和打火的情况。

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