一种基于X射线成像的PCB检测系统

发明专利无效专利

申请号：
CN201810253943.3
IPC分类号：G01N23/04;G01R31/28
申请日期：
2018-03-26
申请人：
成都马兰科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种基于X射线成像的PCB检测系统
申请号	CN201810253943.3	申请日期	2018-03-26
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2018-09-18	公开/公告号	CN108548830A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/00 利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、（或中子，未包括在G01N3/00至G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00）〔1，2006.01〕 G01N23/02 通过使辐射透过材料 G01N23/04 并形成材料的图片〔1，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;4;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	成都马兰科技有限公司	申请人地址	四川省成都市高新区天府四街66号2栋5层2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	成都马兰科技有限公司	当前权利人	成都马兰科技有限公司
发明人	廖义勇
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种基于X射线成像的PCB检测系统，其特征在于，包括X射线发射器、X射线探测器、PCB、计算机、工作台、运动执行模块，所述X射线发射器安装于工作台Z轴方向上，所述X射线探测器置于工作台水平面上，所述X射线探测器与计算机连接，所述PCB置于X射线探器上，所述X射线发射器、PCB、X射线探测器在一条铅直线上，所述运动执行模块与计算机连接。本发明利用X射线无损检测成像，针对PCB裸板设计了一套在线缺陷检测系统，其检测效率高、速度快、操作简单。

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