一种CPT原子钟的VCSEL激光器性能检测方法和系统

发明专利无效专利

申请号：
CN201810674469.1
IPC分类号：G01M11/00
申请日期：
2018-06-27
申请人：
北京无线电计量测试研究所

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种CPT原子钟的VCSEL激光器性能检测方法和系统
申请号	CN201810674469.1	申请日期	2018-06-27
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2018-12-21	公开/公告号	CN109060304A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	北京无线电计量测试研究所	申请人地址	北京市海淀区142信箱408分箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京无线电计量测试研究所	当前权利人	北京无线电计量测试研究所
发明人	薛潇博;杨仁福;张振伟;张旭;赵环;王暖让;陈星;陈海波
代理机构	北京正理专利代理有限公司	代理人	付生辉

摘要

本发明公开了一种CPT原子钟的VCSEL激光器性能检测方法和系统。该检测方法的原理是：利用分光棱镜将激光分成多束，同时测量激光功率、线宽和原子作用光谱特性。利用光功率计测量激光功率，利用外腔半导体激光和频谱仪测量激光线宽，利用原子气室测量激光光谱特性。通过一体化设计，实现对激光器性能的同时检测。激光器是CPT原子钟内的核心元器件，此方法可以同时测量激光器的主要性能指标，极大地提高了激光器检测效率，提高CPT原子钟批生产速率。同时该方法实施所需的光学元器件均可小型化、模块化，实现难度低、可扩展性强、具有商品化优势。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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