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用于带电粒子显微镜的方法及系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010097548.8
  • IPC分类号:H01J37/28;H01J37/244;G01Q30/02;G01Q30/04
  • 申请日期:
    2016-03-24
  • 申请人:
    科磊股份有限公司
著录项信息
专利名称用于带电粒子显微镜的方法及系统
申请号CN202010097548.8申请日期2016-03-24
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-06-09公开/公告号CN111261481A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01J37/28IPC分类号H;0;1;J;3;7;/;2;8;;;H;0;1;J;3;7;/;2;4;4;;;G;0;1;Q;3;0;/;0;2;;;G;0;1;Q;3;0;/;0;4查看分类表>
申请人科磊股份有限公司申请人地址
美国加利福尼亚州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人科磊股份有限公司当前权利人科磊股份有限公司
发明人D·马斯纳盖蒂;G·托特;D·特雷斯;R·博特罗;G·H·陈;R·克尼彭迈耶
代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司代理人刘丽楠
摘要
本申请实施例是关于用于带电粒子显微镜的方法及系统。本申请的一实施例揭示一种具有改进的图像束稳定性的扫描电子显微镜系统。所述系统包含经配置以产生电子束的电子束源及将所述电子束的至少一部分引导到样本的部分上的一组电光元件。所述系统包含发射率分析器组合件。所述系统包含经配置以将由所述样本的表面发射的至少一部分次级电子及/或反向散射电子引导到所述发射率分析器组合件的分光器元件。所述发射率分析器组合件经配置以对所述次级电子及/或所述反向散射电子中的至少一者进行成像。

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