一种基于FPGA在数字测试通道上实现定制模块的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110053251.6
IPC分类号：G01R31/317
申请日期：
2021-01-15
申请人：
胜达克半导体科技（上海）有限公司

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著录项信息

专利名称	一种基于FPGA在数字测试通道上实现定制模块的方法
申请号	CN202110053251.6	申请日期	2021-01-15
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-05-28	公开/公告号	CN112858892A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/317 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/317 数字电路的测试〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;7查看分类表>
申请人	胜达克半导体科技（上海）有限公司	申请人地址	上海市青浦区清河湾路1130号1幢1层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	胜达克半导体科技（上海）有限公司	当前权利人	胜达克半导体科技（上海）有限公司
发明人	魏津;张经祥;胡雪原
代理机构	上海专益专利代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	方燕娜;王雯婷

摘要

本发明涉及半导体测试技术领域，具体地说是一种基于FPGA在数字测试通道上实现定制模块的方法。具体测试方法如下：S1：根据通用模块的资源用量，为每个数字通道的定制模块规划资源数量；S2：设计定制模块；S3：将通用模块及定制模块与主控模块连接；S4：当用户需要定制功能时，开发定制功能模块；S5：确定定制功能模块后，定制模块内的其他资源数量用若干冗余模块填补；S6：实际测试中，当需要通用模块测试时，模式切换寄存器切换到0选择通用模式；当需要定制模块测试时，模式切换寄存器切换到1选择定制模式。同现有技术相比，在自动测试机上扩展出可定制化的测试通道功能，其控制逻辑通过现场可编程逻辑芯片FPGA来实现，增加了测试通道的测试功能。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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