二阶欠阻尼系统的串联校正方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202011397821.5
IPC分类号：G05B11/01
申请日期：
2020-12-03
申请人：
重庆交通大学

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著录项信息

专利名称	二阶欠阻尼系统的串联校正方法
申请号	CN202011397821.5	申请日期	2020-12-03
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-03-26	公开/公告号	CN112558463A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G05B11/01 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G05 控制；调节 G05B 一般的控制或调节系统；这种系统的功能单元；用于这种系统或单元的监视或测试装置（应用流体作用的一般流体压力执行器或系统入F15B；阀门本身入F16K；仅按机械特征区分的入G05G；传感元件见相应小类，例如G12B，G01、H01的小类；校正单元见相应的小类，例如H02K） G05B11/00 自动控制器（G05B 13/00优先） G05B11/01 电的	IPC分类号	G;0;5;B;1;1;/;0;1查看分类表>
申请人	重庆交通大学	申请人地址	重庆市南岸区学府大道66号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	重庆交通大学	当前权利人	重庆交通大学
发明人	唐静
代理机构	重庆上义众和专利代理事务所（普通合伙）	代理人	谭勇

摘要

一种二阶欠阻尼系统串联校正方法，具体步骤：一：测试系统阶跃响应，得超调量δ3％，调节时间ts3；二：根据步骤一得超调量δ3％和调节时间ts3，建立实际开环传递函数；三：根据步骤一得超调量δ3％和调节时间ts3与步骤二推算的kv，判断实际连续二阶欠阻尼系统静态速度误差、超调量和调节时间是否满足性能要求；如满足要求则被控对象不需要校正；如不满足要求则需要校正，进入步骤四；四：连续欠阻尼二阶系统输出波形任一性能不满足要求，则校正，在步骤四中讲述具体校正方法；五：校正后模型性能指标验算；六：实物搭建校正环节，按步骤一和步骤二测得静态速度误差、超调量和调节时间，与提出指标比较，看是否校正成功，如不成功，进一步调节参数。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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