专利名称 | 一种快速的集成电路测试流程优化方法 | ||
申请号 | CN200410006727.7 | 申请日期 | 2004-02-26 |
法律状态 | 授权 | 申报国家 | 中国 |
公开/公告日 | 2005-01-05 | 公开/公告号 | CN1560646 |
优先权 | 暂无 | 优先权号 | 暂无 |
主分类号 | G01R31/28 | IPC分类号 | G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表> |
申请人 | 中国科学院计算技术研究所 | 申请人地址 | 北京市中关村科学院南路6号
变更
专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效 |
权利人 | 中国科学院计算技术研究所 | 当前权利人 | 中国科学院计算技术研究所 |
发明人 | 韩银和;李晓维 | ||
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 周国城 |
专利实施许可合同备案的生效
合同备案号: X2022990000752 专利申请号: 200410006727.7 申请日: 2004.02.26 让与人: 中国科学院计算技术研究所 受让人: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司 发明名称: 一种快速的集成电路测试流程优化方法 申请公布日: 2005.01.05 授权公告日: 2007.08.08 许可种类: 排他许可 备案日期: 2022.10.09
授权
授权
实质审查的生效
实质审查的生效
公布
公布
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 |
---|---|---|---|---|---|
1
|
2002-09-11
|
2001-02-05
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2
| 暂无 |
1986-11-26
| |||
3
| 暂无 |
2002-05-30
|
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 |
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