半导体器件故障检测装置以及变换器

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201820325287.9
IPC分类号：G01R31/26
申请日期：
2018-03-09
申请人：
深圳市禾望电气股份有限公司

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著录项信息

专利名称	半导体器件故障检测装置以及变换器
申请号	CN201820325287.9	申请日期	2018-03-09
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人	深圳市禾望电气股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区西丽镇官龙村第二工业区5号厂房1-3层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市禾望电气股份有限公司	当前权利人	深圳市禾望电气股份有限公司
发明人	李海龙;王武华;霍明;郑大鹏;周党生
代理机构	广东广和律师事务所	代理人	王峰

摘要

本实用新型公开一种半导体器件故障检测装置以及变换器，所述装置包括：主功率模块、电压处理模块和逻辑控制模块；主功率模块包括储能单元和功率变换单元，功率变换单元包括半导体器件；电压处理模块，用于采集功率变换单元的预设节点之间的电压；将预设节点之间的电压转换为电压状态信号；对电压状态信号进行光电隔离处理后输出低电压信号；逻辑控制模块，用于获取电压处理模块输出的低电压信号；根据功率变换单元的驱动控制信号和低电压信号确定半导体器件是否发生故障。本实用新型通过电压处理模块和逻辑控制模块，可实时检测半导体器件故障；解决了现有的半导体器件故障的检测不具有实时性、高抗扰性以及隔离较差的问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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