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一种诊断测试体系

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201611064186.2
  • IPC分类号:G01N33/53;G01N33/558
  • 申请日期:
    2016-11-28
  • 申请人:
    贝知(上海)信息科技有限公司
著录项信息
专利名称一种诊断测试体系
申请号CN201611064186.2申请日期2016-11-28
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2017-03-08公开/公告号CN106483283A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N33/53IPC分类号G;0;1;N;3;3;/;5;3;;;G;0;1;N;3;3;/;5;5;8查看分类表>
申请人贝知(上海)信息科技有限公司申请人地址
上海市浦东新区康新公路3399弄25号楼4层451室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人贝知(上海)信息科技有限公司当前权利人贝知(上海)信息科技有限公司
发明人刘志锋;谢新奇;郁佳
代理机构上海光华专利事务所代理人许亦琳
摘要
本发明提供一种诊断测试体系,包括:测试终端,包括外壳、试纸条检测机构及电源模块,所述试纸条检测机构及电源模块设于外壳内,试纸条检测机构用于对试纸条进行检测并获得实际测试值M测;批次读取模块,用于读取试纸条批次信息;批次校准系统,与试纸条检测机构及批次读取模块信号连接,用于将来自试纸条检测机构的实际测试值M测依据试纸条的批次对应的批次校准数据进行校准,获得校准值M判定。利用本发明的诊断测试体系可在实际用户使用时对不同批次的测试棒进行校准,以提高测试结果准确性。

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