一种残币面积检测系统

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201020001054.7
IPC分类号：G01B11/28;G06K9/20
申请日期：
2010-01-18
申请人：
聊城大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种残币面积检测系统
申请号	CN201020001054.7	申请日期	2010-01-18
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/28 用于计量面积（一般积分器入G06G）	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;8;;;G;0;6;K;9;/;2;0查看分类表>
申请人	聊城大学	申请人地址	山东省聊城市湖南路1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	聊城大学	当前权利人	聊城大学
发明人	田存伟;曹银杰
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型公开了一种残币面积检测系统，包括残币版本及面值信息输入单元、FPGA控制单元、CIS残币图像采集单元、数据预处理单元、DSP数字图像处理及计算单元、以及结果显示单元，残币版本及面值信息输入单元与FPGA控制单元连接，CIS残币图像采集单元与FPGA控制单元及数据预处理单元连接，数据预处理单元与FPGA控制单元连接，DSP数字图像处理及计算单元与FPGA控制单元连接，结果显示单元与FPGA控制单元连接。本实用新型所述残币面积检测系统，可以克服现有技术中测量准确性差、手工劳动量大、体积大、实时性差、以及成本高等缺陷，以实现测量准确性好、自动化程度高、体积小、实时性好、以及成本低的优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供