从头测序方法及装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201611019740.5
IPC分类号：G01N27/62
申请日期：
2016-11-14
申请人：
中国科学院计算技术研究所

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	从头测序方法及装置
申请号	CN201611019740.5	申请日期	2016-11-14
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-05-31	公开/公告号	CN106770605A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N27/62 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N27/00 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 25/00优先；电或磁变量的测量或试验，材料的电磁性能的测试或试验入G01R） G01N27/62 通过测试气体的电离，通过测试放电，例如阴极发射	IPC分类号	G;0;1;N;2;7;/;6;2查看分类表>
申请人	中国科学院计算技术研究所	申请人地址	北京市海淀区中关村科学院南路6号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院计算技术研究所	当前权利人	中国科学院计算技术研究所
发明人	杨皓;迟浩;周文婧;何昆;曾文锋;刘超;孙瑞祥;贺思敏
代理机构	北京泛华伟业知识产权代理有限公司	代理人	王勇;苏晓丽

摘要

本发明提供了从头测序方法，其包括将待解析的谱图转化为质谱连接图，统计所述质谱连接图中各条路径的得分，提取路径得分高的前若干条普通路径和修饰路径作为候选肽段，其中，所述普通路径为仅由普通边组的路径，所述修改路径为由普通边和修饰边组成的路径且其中仅包含一条修饰边；以及对于每个候选肽段进行肽谱匹配打分，取肽谱匹配打分最高的候选肽段作为所述谱图对应的肽段。该方法可以支持上千种意外修饰的发现，而且不会对肽段鉴定的速度有较大影响。另外，还可以更细粒度地区分相似肽段序列，改善了肽段鉴定的准确率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供