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一种器件老化筛选加热温度控制方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200810035419.5
  • IPC分类号:G05D23/32;G01R31/00;G01R31/01
  • 申请日期:
    2008-03-31
  • 申请人:
    上海电气自动化设计研究所有限公司
著录项信息
专利名称一种器件老化筛选加热温度控制方法
申请号CN200810035419.5申请日期2008-03-31
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2009-10-07公开/公告号CN101551683
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G05D23/32IPC分类号G;0;5;D;2;3;/;3;2;;;G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;3;1;/;0;1查看分类表>
申请人上海电气自动化设计研究所有限公司申请人地址
上海市蒙自路360号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海电气自动化设计研究所有限公司当前权利人上海电气自动化设计研究所有限公司
发明人陈冰;李红词;李新育;朱蕴
代理机构上海兆丰知识产权代理事务所代理人章蔚强
摘要
本发明公开了一种器件老化筛选加热温度控制方法,包括以下步骤:步骤S1:设定目标温度,步骤S2:测定环境温度,步骤S3:计算加热功率,步骤S4:按加热功率给出电压触发,步骤S5:根据温度进行PWM控制,即根据温度情况,来进行PWM控制以控制温度。本发明在普通的加热控制方法的基础上,不仅对温度进行了控制,另外增加了对功率进行了控制,使得控制的效率高、速度快。

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