用于检测MCU电压的检测电路

发明专利有效专利

申请号：
CN201210200434.7
IPC分类号：G01R19/00
申请日期：
2012-06-15
申请人：
杭州士兰微电子股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	用于检测MCU电压的检测电路
申请号	CN201210200434.7	申请日期	2012-06-15
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2012-09-26	公开/公告号	CN102692545A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R19/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R19/00 用于测量电流或电压或者用于指示其存在或符号的装置（G01R 5/00优先；用于测量生物电流或电压的入A61B 5/04）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;R;1;9;/;0;0查看分类表>
申请人	杭州士兰微电子股份有限公司	申请人地址	浙江省杭州市西湖区黄姑山路4号1号小楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杭州博脉科技有限公司	当前权利人	杭州博脉科技有限公司
发明人	郑尊标;朱蓉
代理机构	上海思微知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	郑玮

摘要

本发明公开了一种用于检测MCU电压的检测电路，所述MCU包括第一I/O端口、第二I/O端口、定时装置、被测电压端口、连接电源电压VDD的电压输入端和接地端，所述被测电压端口的电压跟随电源电压VDD，其特征在于，所述检测电路包括电容、电阻和钳位模块,所述电阻的一端连接所述被测电压端口，所述电阻的另一端连接所述电容的一端、所述钳位模块的一端以及所述第一I/O端口，所述钳位模块的另一端连接所述第二I/O端口，所述电容的另一端接地，所述电容放电时，电容放电电荷经由所述钳位模块放电，电容放电电压达到钳位模块的钳电压时电容停止放电。采用本发明的电压检测电路可以有效的降低整体电路的成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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