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足态测试方法、系统、可穿戴设备及存储介质

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010639549.0
  • IPC分类号:A61B5/103
  • 申请日期:
    2020-07-06
  • 申请人:
    华南师范大学;电子科技大学中山学院;深圳市国华光电科技有限公司
著录项信息
专利名称足态测试方法、系统、可穿戴设备及存储介质
申请号CN202010639549.0申请日期2020-07-06
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-11-17公开/公告号CN111938654A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号A61B5/103IPC分类号A;6;1;B;5;/;1;0;3查看分类表>
申请人华南师范大学;电子科技大学中山学院;深圳市国华光电科技有限公司申请人地址
广东省广州市番禺区外环西路378号华南师范大学华南先进光电子研究院 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华南师范大学,电子科技大学中山学院,深圳市国华光电科技有限公司当前权利人华南师范大学,电子科技大学中山学院,深圳市国华光电科技有限公司
发明人周国富;黄圳煜;易子川;张学文;蔡梓鸿;何文耀;刘林威
代理机构广州嘉权专利商标事务所有限公司代理人暂无
摘要
本发明公开了足态测试方法、系统、可穿戴设备及存储介质,涉及医疗测试技术领域。方法包括获取足部多个受力点的每一受力点的坐标;获取所述足部多个受力点的每一受力点的压力信号;根据所述足部多个受力点的每一受力点的坐标和压力信号,计算足部重心位置。本发明通过对人体的足部压力进行测试,计算足部重心位置,从而为用户的足部或其他部位的康复训练或临床治疗提供依据。

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