超声波探伤方法和超声波探伤装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200680001305.8
IPC分类号：G01N29/04;G01N29/28
申请日期：
2006-01-11
申请人：
松下电器产业株式会社

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法律信息

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著录项信息

专利名称	超声波探伤方法和超声波探伤装置
申请号	CN200680001305.8	申请日期	2006-01-11
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2007-11-07	公开/公告号	CN101069095
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N29/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N29/00 利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像（G01N 3/00至G01N 27/00优先）〔4〕 G01N29/04 固体分析（利用声发射技术入G01N 29/14）〔4，5，8〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;9;/;0;4;;;G;0;1;N;2;9;/;2;8查看分类表>
申请人	松下电器产业株式会社	申请人地址	日本大阪府变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	松下电器产业株式会社	当前权利人	松下电器产业株式会社
发明人	桂浩章;上田阳一郎;后川和也
代理机构	上海专利商标事务所有限公司	代理人	张鑫

摘要

用高分子膜(2)封住介质槽(1)的底面开口并密封(a)，对介质槽(1)的内部(4)减压并使高分子膜(2)吸附在介质槽(1)的底部(b)，一面对介质槽(1)的内部(4)减压，一面注入超声波传导介质(5)，使得至少浸渍超声波探头(3)的前端(c)，在使检查对象(6)和介质槽(1)相对移动并使检查对象(6)和上述高分子膜(2)接触的状态下，向介质槽(1)的内部施加更大的压力(d)，用超声波探头(3)来接收从所述超声波探头(3)发送并由检查对象反射的超声波来进行检查，从而能够容易地进行生产工序中的高分子膜(2)的更换，而且对于检查对象即使没有检查对象和其周围的空间，也能够进行很好的检查。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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