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一种激光器芯片测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201920989831.4
IPC分类号：G01R31/28;G01M11/00
申请日期：
2019-06-28
申请人：
大连优迅科技有限公司

基础信息

权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种激光器芯片测试装置
申请号	CN201920989831.4	申请日期	2019-06-28
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;M;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	大连优迅科技有限公司	申请人地址	辽宁省大连市高新技术产业园区高能街125号电梯5层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	大连优迅科技股份有限公司	当前权利人	大连优迅科技股份有限公司
发明人	孔繁禹;廖传武;张亮;袁家勇
代理机构	大连理工大学专利中心	代理人	温福雪

摘要

本实用新型属于光通信技术领域，具体涉及一种激光器芯片测试装置，包括光纤透镜、光纤三维调节架、散热台、温控模块、探针三维调节架、探针、PIV耦合电源和波长计。本实用新型改进了常规芯片测试系统，增加了半导体制冷器和温度反馈器件热敏电阻，二者组成温度反馈补偿系统，从而达到局部温度的精确控制，大大减小测试结果的误差。

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