元件测试分选机

实用新型专利无效专利

申请号：
CN200420001551.1
IPC分类号：G01N23/00
申请日期：
2004-01-16
申请人：
达方电子股份有限公司

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著录项信息

专利名称	元件测试分选机
申请号	CN200420001551.1	申请日期	2004-01-16
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/00 利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、（或中子，未包括在G01N3/00至G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00）〔1，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;0查看分类表>
申请人	达方电子股份有限公司	申请人地址	台湾省桃园县变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	达方电子股份有限公司	当前权利人	达方电子股份有限公司
发明人	高敏
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	陈小雯;李晓舒

摘要

本实用新型提供一种元件测试分选机，包括：振动入料组，具有可容纳待测试元件分片的料斗，并在该料斗一端延伸一导料管，该导料管末端形成定位架；转盘，其周围环设有数个沟槽洞，以依序接收及输送上述定位架的每一待测试元件；测试系统机构，依行进程序逐一探测每一沟槽洞的待测试元件，并执行既定的射频测试校验项目及存储校验修正值的对比分析后，再根据测试项目与测试值的预设属性进行分类；及收料管架，具有多组收纳区，以分别收纳经由分类后的已测试元件。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN101486035B	2008-02-29	2008-02-29	部件分类装置及使用上述装置的电子部件特性检查分类装置有效专利	慧萌高新科技有限公司
2	CN103576211B	2013-10-16	2013-10-16	衬芯自动检测装置有效专利	宁波名古屋工业有限公司
3	CN102832157B	2012-09-11	2012-09-11	集成电路收料管自动排管机构有效专利	苏州均华精密机械有限公司
4	CN106057716A	2016-06-22	2016-06-22	一种元器件快速移载装置无效专利	苏州华本机电有限公司
5	CN102832157A	2012-09-11	2012-09-11	集成电路收料管自动排管机构有效专利	苏州均华精密机械有限公司
6	CN103576211A	2013-10-16	2013-10-16	衬芯自动检测装置有效专利	宁波名古屋工业有限公司
7	CN106391512A	2016-08-29	2016-08-29	SOT外形集成电路芯片测试分选装置有效专利	福州派利德电子科技有限公司
8	CN105431722B	2014-06-04	2014-06-04	用于制造力测量体的方法有效专利	赛多利斯实验室仪器有限责任两合公司
9	CN104841640A	2015-04-30	2015-04-30	一种辐照后颗粒自动分选装置有效专利	清华大学
10	CN103920650A	2014-03-19	2014-03-19	一种自动检测装置有效专利	浙江歌瑞新材料有限公司
11	CN103920650B	2014-03-19	2014-03-19	一种自动检测装置有效专利	浙江歌瑞新材料有限公司
12	CN104841640B	2015-04-30	2015-04-30	一种辐照后颗粒自动分选装置有效专利	清华大学
13	CN101823056A	2010-04-09	2010-04-09	全自动咪头测试机无效专利	福建省德传电子科技有限公司
14	CN105431722A	2014-06-04	2014-06-04	用于制造力测量体的方法有效专利	赛多利斯实验室仪器有限责任两合公司
15	CN104084382A	2014-07-16	2014-07-16	一种转盘式麦克风并行测试分选设备有效专利	苏州迪纳精密设备有限公司
16	WO2011072486A1	2010-12-16	2010-12-16	测试射频识别系统性能的装置和方法公开	中国科学院自动化研究所;谭杰;朱智源;赵红胜

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