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磁共振CEST成像频率漂移校正方法、装置、介质及成像设备

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010244399.3
  • IPC分类号:G01R33/58
  • 申请日期:
    2020-03-31
  • 申请人:
    浙江大学
著录项信息
专利名称磁共振CEST成像频率漂移校正方法、装置、介质及成像设备
申请号CN202010244399.3申请日期2020-03-31
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2020-07-14公开/公告号CN111413655A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R33/58IPC分类号G;0;1;R;3;3;/;5;8查看分类表>
申请人浙江大学申请人地址
浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人浙江大学当前权利人浙江大学
发明人张祎;刘瑞斌;张洪锡;徐义程;孙毅;吴丹
代理机构杭州求是专利事务所有限公司代理人傅朝栋;张法高
摘要
本发明公开一种磁共振CEST成像频率漂移校正方法、装置、介质及成像设备。方法步骤如下:首先,在频率漂移校正模块中,利用小翻转角射频脉冲激发目标层面,采集单行自由感应衰减信号或者两行非相位编码梯度回波信号。其次,根据单行自由感应衰减信号或者两行非相位编码梯度回波信号的相位信息和采集时间,可分别算得主磁场频率漂移值。然后,根据主磁场频率漂移计算值实时调整磁共振设备的中心频率,实现主磁场频率漂移的实时校正。最后,再进行CEST成像。本发明针对磁共振CEST成像中的主磁场频率漂移问题,提出了基于采集自由感应衰减信号或非相位编码梯度回波信号的频率漂移校正模块对频率漂移进行实时校正,进而提高磁共振CEST成像的鲁棒性及可重复性。

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