用于测量片状材料或其它材料的雾度的装置和方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201080020227.2
IPC分类号：--
申请日期：
2010-03-02
申请人：
霍尼韦尔国际公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	用于测量片状材料或其它材料的雾度的装置和方法
申请号	CN201080020227.2	申请日期	2010-03-02
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2012-04-18	公开/公告号	CN102422148A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	霍尼韦尔国际公司	申请人地址	美国新泽西州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	霍尼韦尔国际公司	当前权利人	霍尼韦尔国际公司
发明人	T.T.莎士比亚;J.F.莎士比亚
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	王岳;蒋骏

摘要

一种方法包括采用第一光(108,208,308,504,604,802)照射(902)材料(102,202,302)并且捕获(904)透射通过所述材料的第二光(114-116,214-216,314-316,804,808,814,816,822)的图像(400,700)。所述方法还包括分析(908)所述图像的多个区(402-406,702)并且基于所述分析确定(910)与所述材料相关联的一个或多个雾度测量结果。所述方法进一步包括存储和/或输出(910)所述一个或多个雾度测量结果。分析所述图像的多个区可以包括计算每个区中的像素值的总和以为该区产生总的像素值。所述图像的多个区可以包括：(i)形成第一圆盘的第一区；(ii)形成环绕所述第一区的第一环形区或大于并且包括所述第一圆盘的第二圆盘的第二区；以及(iii)形成环绕所述第二区的第二环形区或大于并且包括所述第一和第二圆盘的第三圆盘的第三区。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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