待测装置及用于测试待测装置的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310631890.1
IPC分类号：G11C29/42
申请日期：
2013-11-29
申请人：
慧荣科技股份有限公司

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著录项信息

专利名称	待测装置及用于测试待测装置的方法
申请号	CN201310631890.1	申请日期	2013-11-29
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-06-11	公开/公告号	CN103854703A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/42 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/04 损坏存储元件的检测或定位〔8〕 G11C29/08 功能测试，例如，在刷新、通电自检〔POST〕或分布型测试期间的测试〔8〕 G11C29/12 用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置〔BIST〕〔8〕 G11C29/38 响应验证装置〔8〕 G11C29/42 用纠错码〔ECC〕或奇偶校验检查〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;4;2查看分类表>
申请人	慧荣科技股份有限公司	申请人地址	中国台湾新竹县变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	慧荣科技股份有限公司	当前权利人	慧荣科技股份有限公司
发明人	杨宗杰
代理机构	深圳新创友知识产权代理有限公司	代理人	江耀纯

摘要

本发明公开了一种待测装置、测试器及用于测试所述待测装置的方法。所述待测装置具有一连接接口、一控制器以及一功能区块。所述连接接口是用以接收以一第一时钟速率所传送的一测试型样并且输出一功能测试结果。所述控制器是用以通过使用一第二时钟速率来对所述测试型样进行取样并据以产生一取样后测试型样，其中所述第二时钟速率高于所述第一时钟速率。所述功能区块是用以对所述取样后测试型样执行一特定功能并据以产生所述功能测试结果。通过本发明，可达到用一低速测试器来对一待测装置进行一实速功能测试的目的，进而降低测试成本。

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该专利没有引用任何外部专利数据！

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