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与CMOS工艺兼容的硅纳米线器件的制作方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201110257393.0
  • IPC分类号:H01L21/02;H01L21/336
  • 申请日期:
    2011-09-01
  • 申请人:
    上海华力微电子有限公司
著录项信息
专利名称与CMOS工艺兼容的硅纳米线器件的制作方法
申请号CN201110257393.0申请日期2011-09-01
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2013-03-13公开/公告号CN102969222A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/02IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;0;2;;;H;0;1;L;2;1;/;3;3;6查看分类表>
申请人上海华力微电子有限公司申请人地址
上海市浦东新区张江高科技园区高斯路497号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海华力微电子有限公司当前权利人上海华力微电子有限公司
发明人曹永峰
代理机构上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)代理人陆花
摘要
本发明涉及一种与CMOS工艺兼容的硅纳米线器件的制作方法,该种制作方法在现有技术的制作工艺中,在硅纳米线上沉积覆盖了一层无定形碳层,利用无定形碳层的灰化特性和回流特性,对硅纳米线器件干法释放时进行灰化工艺,干法释放后的硅纳米线器件的硅纳米线没有侧墙,本发明的硅纳米线器件与现有硅纳米线器件制作方法得到的硅纳米线器件相比,接触面积大,受影响率大。

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