通过在空间上和/或在时间上改变采样模式增强抗锯齿

发明专利有效专利

申请号：
CN201510574341.4
IPC分类号：G06T5/00
申请日期：
2015-09-10
申请人：
辉达公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	通过在空间上和/或在时间上改变采样模式增强抗锯齿
申请号	CN201510574341.4	申请日期	2015-09-10
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-03-16	公开/公告号	CN105405103A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T5/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T5/00 图像的增强或复原，如从位像到位像地建立一个类似的图形〔6〕	IPC分类号	G;0;6;T;5;/;0;0查看分类表>
申请人	辉达公司	申请人地址	美国加利福尼亚州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	辉达公司	当前权利人	辉达公司
发明人	尤里·乌拉尔斯基;乔纳·M·阿尔本;格里高利·马萨尔;安卡·班纳吉;托马斯·彼得森;奥列格·库兹涅佐夫;埃里克·B·卢姆;帕克夏普·梅塔
代理机构	北京市磐华律师事务所	代理人	高伟;王睿

摘要

本发明公开了通过在空间上和/或在时间上改变采样模式增强抗锯齿的技术。光栅单元配置为针对给定帧内的相邻像素生成不同的采样模式。此外，光栅单元可以调整帧之间的采样模式。光栅单元包括索引单元，其选择采样模式表用于当前帧使用。对于给定像素，索引单元从所选择的采样模式表中提取采样模式。所提取的采样模式用来生成用于像素的覆盖信息。用于所有像素的覆盖信息随后用来生成图像。结果图像可随后被滤波以较少或移除由采样位置的改变所引起的伪影。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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