一种基于CCD的高精度测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310509532.3
IPC分类号：G01B11/00
申请日期：
2013-10-25
申请人：
爱科维申科技（天津）有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种基于CCD的高精度测量方法
申请号	CN201310509532.3	申请日期	2013-10-25
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-01-08	公开/公告号	CN103499297A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	爱科维申科技（天津）有限公司	申请人地址	天津市北辰区宜兴埠八街轻工业园2排9号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	爱科维申科技（天津）有限公司	当前权利人	爱科维申科技（天津）有限公司
发明人	耿磊;王忠强
代理机构	天津中环专利商标代理有限公司	代理人	莫琪

摘要

本发明属于机器视觉领域，涉及一种基于CCD的高精度测量方法，突破了目前基于CCD的尺寸测量技术中多用于小尺寸物体测量的局限，该算法构建摄像机成像模型，标定相机内外参数，根据畸变模型和内参数据校正图像；提出了利用邻域信息区分被测物上下表面边缘的方法，采用Canny滤波器提取被测物上表面亚像素边缘信息，根据被检测零件的CAD数据创建模板,利用基于形状的模板匹配算法精确定位识别被测物,根据点激光器获得被测物深度信息，约束并换算被测物上表面姿态，最后将轮廓距离作为被测物加工误差的度量,该算法可应用于大尺寸平面零件尺寸测量，精度可达亚像素级别。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供