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具有自粘性保护层的半导体晶圆

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200810161347.9
  • IPC分类号:H01L23/00;H01L23/485
  • 申请日期:
    2008-09-23
  • 申请人:
    联测科技股份有限公司
著录项信息
专利名称具有自粘性保护层的半导体晶圆
申请号CN200810161347.9申请日期2008-09-23
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2010-03-31公开/公告号CN101685804
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L23/00IPC分类号H;0;1;L;2;3;/;0;0;;;H;0;1;L;2;3;/;4;8;5查看分类表>
申请人联测科技股份有限公司申请人地址
中国台湾新竹市 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人联测科技股份有限公司当前权利人联测科技股份有限公司
发明人蔡宪聪
代理机构北京戈程知识产权代理有限公司代理人程伟;王锦阳
摘要
一种具有自粘性保护层的半导体晶圆,包括具有第一表面和相对的第二表面的本体;多个形成于该第二表面上的电性连接垫;以及形成于该本体的第二表面及该多个电性连接垫上的保护层;其中,该保护层的材料包括感光性粘着剂、热固化粘着剂以及介电材料。本发明的半导体晶圆的保护层除了可阻绝晶圆表面电路与空气水尘接触外更具有可图案化和粘着的性质,并可利用保护层的自粘性便于使晶圆与后续工艺的电路基板结合,无须在晶圆的预定结合表面涂覆粘着剂,大幅简化例如封装工艺期间与电路基板结合的工序。

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