一种用于光纤折射率测量的准牢笼式马赫增德尔干涉仪

发明专利有效专利

申请号：
CN202010760843.7
IPC分类号：G01M11/00;G01D5/353
申请日期：
2020-07-31
申请人：
中国电子科技集团公司第四十一研究所

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著录项信息

专利名称	一种用于光纤折射率测量的准牢笼式马赫增德尔干涉仪
申请号	CN202010760843.7	申请日期	2020-07-31
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-11-17	公开/公告号	CN111947886A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;0;;;G;0;1;D;5;/;3;5;3查看分类表>
申请人	中国电子科技集团公司第四十一研究所	申请人地址	山东省青岛市黄岛区香江路98号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国电子科技集团公司第四十一研究所	当前权利人	中国电子科技集团公司第四十一研究所
发明人	韩正英;高业胜;郑光金;赵耀;尚福洲
代理机构	北京天奇智新知识产权代理有限公司	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种用于光纤折射率测量的准牢笼式马赫增德尔干涉仪，将数字全息记录光路设置为马赫增德尔干涉光路，每个光学器件之间的相对位置均经过严格的数学计算和仿真模拟，确定好各光学器件的相对位置后，将分光棱镜、反射镜等光学器件嵌套到规格一致的立方体笼式结构中，立方体牢笼式结构装配到光学底座上预先加工好的沟槽，由专门的螺母固定。本发明技术方案结构更加紧凑稳定，用于集成到仪器内部；此外光学底座选用重量大、经过发黑工艺处理后的实心铸铁，有效实现仪器重心下移，保障整个光路系统的稳定性。本发明的离轴全息记录光路可以通过调节分光棱镜的角度灵活地改变物参光夹角，实现同轴全息与离轴全息记录之间的切换。

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