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用于评估与处理过程关联的状态的方法与系统

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200780016375.5
  • IPC分类号:G05B19/418;H01L21/66;G05B13/04
  • 申请日期:
    2007-02-20
  • 申请人:
    先进微装置公司
著录项信息
专利名称用于评估与处理过程关联的状态的方法与系统
申请号CN200780016375.5申请日期2007-02-20
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2009-05-20公开/公告号CN101438217
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G05B19/418IPC分类号G;0;5;B;1;9;/;4;1;8;;;H;0;1;L;2;1;/;6;6;;;G;0;5;B;1;3;/;0;4查看分类表>
申请人先进微装置公司申请人地址
英属开曼群岛大开曼岛 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人格罗方德半导体公司当前权利人格罗方德半导体公司
发明人R·P·古德;K·A·沙尼斯;U·舒尔策
代理机构北京戈程知识产权代理有限公司代理人程伟;王锦阳
摘要
一种用于评估关联于处理过程的状态的方法,包含接收关联于该处理过程的状态观察。该状态观察具有关联之处理过程时间。根据该处理过程时间产生酌减(discount)该状态观察的加权因子。根据该酌减的状态观察产生状态评估。一种系统,包含处理过程工具、量测工具、和处理过程控制器。该处理过程工具可操作以根据操作方案执行处理过程。该量测工具可操作以产生关联于该处理过程的状态观察。该处理过程控制器可操作以接收具有关联之处理过程时间的状态观察,根据该处理过程时间产生用以酌减该状态观察的加权因子,根据该酌减的状态观察产生状态评估,以及根据该状态评估决定该操作方案之至少一个参数。

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