开闭装置的诊断方法以及装置

发明专利有效专利

申请号：
CN202010410630.1
IPC分类号：G01R31/327;G01H17/00
申请日期：
2020-05-15
申请人：
株式会社日立制作所

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著录项信息

专利名称	开闭装置的诊断方法以及装置
申请号	CN202010410630.1	申请日期	2020-05-15
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2020-11-17	公开/公告号	CN111948528A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/327 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/327 电路断续器、开关或电路断路器的测试〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;2;7;;;G;0;1;H;1;7;/;0;0查看分类表>
申请人	株式会社日立制作所	申请人地址	日本东京变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社日立制作所	当前权利人	株式会社日立制作所
发明人	楯身优;六户敏昭;大槻正典;高滨朗
代理机构	中国贸促会专利商标事务所有限公司	代理人	金光华

摘要

提供一种开闭装置的诊断方法以及装置，能够用简便的结构高精度地掌握平时的状态。特征在于，得到安装于开闭装置的加速度传感器的信号和在开闭装置中流过的负载电流，在开闭装置的诊断的事先准备阶段中，根据对加速度传感器的信号进行波谱分析得到的结果来决定应关注的频率，制作至少将频率和负载电流作为特征量的学习数据，在开闭装置的诊断时，根据诊断时所得到的特征量和学习数据，诊断开闭装置的平时状态。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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