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半导体器件及其制造方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200610159801.8
  • IPC分类号:H01L29/786;H01L29/00;H01L27/12;H01L27/32;H01L51/50;H01L21/336;H01L21/84;H01L21/00;H01L51/56
  • 申请日期:
    2002-10-30
  • 申请人:
    株式会社半导体能源研究所
著录项信息
专利名称半导体器件及其制造方法
申请号CN200610159801.8申请日期2002-10-30
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2007-04-11公开/公告号CN1945856
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L29/786
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IPC结构图谱:
IPC分类号H;0;1;L;2;9;/;7;8;6;;;H;0;1;L;2;9;/;0;0;;;H;0;1;L;2;7;/;1;2;;;H;0;1;L;2;7;/;3;2;;;H;0;1;L;5;1;/;5;0;;;H;0;1;L;2;1;/;3;3;6;;;H;0;1;L;2;1;/;8;4;;;H;0;1;L;2;1;/;0;0;;;H;0;1;L;5;1;/;5;6查看分类表>
申请人株式会社半导体能源研究所申请人地址
日本神奈川县厚木市 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人株式会社半导体能源研究所当前权利人株式会社半导体能源研究所
发明人丸山纯矢;高山彻;后藤裕吾
代理机构中国专利代理(香港)有限公司代理人陈景峻
摘要
本发明提供一种总体上既轻且薄并且具有柔性(可弯曲)的半导体器件,它具有半导体元件(薄膜晶体管、薄膜二极管、硅PIN结的光电转换元件或硅电阻元件),以及制造所述半导体器件的方法。在本发明中,并非在塑料膜上形成元件。相反,诸如衬底的平板被用作模板,利用作为第二粘合构件(16)的凝结剂(一般为粘合剂)填充衬底(第三衬底(17))和包括元件的层(剥离层(13))之间的间隙,并且在粘合剂凝结后剥去用作模板的衬底,从而单独用凝结的粘合剂(第二粘合构件(16))固定包括元件的层(剥离层(13))。以这种方式,本发明使膜变薄并且重量减轻。

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