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*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

X光异物检测设备

外观设计专利有效专利
  • 申请号:
    CN201730325076.6
  • LOC分类号:10-05
  • 申请日期:
    2017-07-21
  • 申请人:
    上海多科电子科技有限公司
著录项信息
专利名称X光异物检测设备
申请号CN201730325076.6申请日期2017-07-21
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无LOC分类号10-05查看分类表>
申请人上海多科电子科技有限公司申请人地址
上海市浦东新区张江高科技园区碧波路456号C102室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海多科电子科技有限公司当前权利人上海多科电子科技有限公司
发明人洪坚;朱亚涛
代理机构上海金盛协力知识产权代理有限公司代理人王松
摘要
1.本外观设计产品的名称:X光异物检测设备;2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用于食品中的异物检测;3.本外观设计产品的设计要点:产品的形状;4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片:主视图。

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