一种超导器件测试系统和方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201711217953.3
IPC分类号：G01R31/26
申请日期：
2017-11-28
申请人：
北京无线电计量测试研究所

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著录项信息

专利名称	一种超导器件测试系统和方法
申请号	CN201711217953.3	申请日期	2017-11-28
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-05-25	公开/公告号	CN108072820A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人	北京无线电计量测试研究所	申请人地址	北京市海淀区永定路50号142信箱408分箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京无线电计量测试研究所	当前权利人	北京无线电计量测试研究所
发明人	康焱
代理机构	北京国昊天诚知识产权代理有限公司	代理人	许志勇

摘要

本发明提供一种超导器件测试系统和方法。系统包括交流模块、放大模块、直流模块、并流模块、选择模块、输出模块、示波器、精密电压表。交流模块产生正弦信号。放大模块对正弦信号进行放大，产生第一扫描信号。直流模块产生直流信号。并流模块将第一扫描信号累加在直流信号上，产生第二扫描信号。选择模块在所述第一扫描信号和第二扫描信号中选择输出。输出模块同时输出2路第二扫描信号，一路输入到示波器的电流输入端，另一路输入到超导器件；超导器件电压输出端接精密电压表和示波器电压输入端。本发明还提供一种超导器件测试方法。本发明用于直观地测量超导器件在低温下的工作参数数据，为超导器件驱动提供数据信息。

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