一种破片群空间散布参数测试装置和测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201811438455.6
IPC分类号：G01B11/00
申请日期：
2018-11-28
申请人：
西安工业大学

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著录项信息

专利名称	一种破片群空间散布参数测试装置和测试方法
申请号	CN201811438455.6	申请日期	2018-11-28
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-03-19	公开/公告号	CN109489551A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	西安工业大学	申请人地址	陕西省西安市未央区学府中路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安工业大学	当前权利人	西安工业大学
发明人	李翰山;张晓倩
代理机构	北京瀚群律师事务所	代理人	安筱琼

摘要

本发明公开一种破片群空间散布参数测试装置和测试方法，测试装置包括高速面阵CCD靶和图像采集仪，高速面阵CCD靶放置于探测区域内，图像采集仪与高速面阵CCD靶和上位机分别通过线缆相连接，高速面阵CCD靶包括三角底座和壳体，在壳体的上表面设有光学镜头，在壳体内设有面阵CCD相机和图像采集单元，在壳体内还设有激光发射单元，其用于形成相互交汇的第一线激光探测光幕和第二线激光探测光幕，激光发射单元包括发射激光器、第一激光光学镜头、第二激光光学镜头、第一准直镜、第二准直镜和分光镜。本发明能够实现破片群参数的高精度测量，节约了成本，方便搬运，标定灵活。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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