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交流电沉积法制备氧化亚铜/二氧化钛核壳结构阵列薄膜的方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200910229191.8
  • IPC分类号:C25D9/04;C25D11/26
  • 申请日期:
    2009-12-15
  • 申请人:
    天津大学
著录项信息
专利名称交流电沉积法制备氧化亚铜/二氧化钛核壳结构阵列薄膜的方法
申请号CN200910229191.8申请日期2009-12-15
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2010-06-02公开/公告号CN101717980A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C25D9/04IPC分类号C;2;5;D;9;/;0;4;;;C;2;5;D;1;1;/;2;6查看分类表>
申请人天津大学申请人地址
天津市南开区卫津路92号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人天津大学当前权利人天津大学
发明人侯峰;阴育新
代理机构天津市北洋有限责任专利代理事务所代理人曹玉平
摘要
本发明公开了一种采用交流电沉积法制备氧化亚铜/二氧化钛核壳结构阵列薄膜的方法,步骤为(1)采用阳极氧化法制备TiO2纳米管阵列薄膜;(2)采用交流电沉积的方法制备一维Cu2O/TiO2核壳结构阵列薄膜,在乳酸与水的混合溶液中溶解CuSO4制备Cu2O电沉积液,TiO2/Ti为工作电极,石墨为对电极,在交流电压下沉积Cu2O,用去离子水冲洗Cu2O/TiO2纳米阵列薄膜电极表面,干燥后制得一维Cu2O/TiO2核壳结构阵列薄膜。本发明的方法工艺简单、易于控制,不易破坏TiO2纳米管阵列结构,可望实现廉价大规模生产。

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