具有深度鉴别的光学再现的方法和装置

发明专利有效专利

申请号：
CN200880018509.1
IPC分类号：G01B11/24;G02B21/00;G02B21/16;G06T7/00;G01N21/64
申请日期：
2008-04-11
申请人：
迈克尔·施韦特纳

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	具有深度鉴别的光学再现的方法和装置
申请号	CN200880018509.1	申请日期	2008-04-11
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2010-03-24	公开/公告号	CN101680749
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/24 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/24 用于计量轮廓或曲率	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;4;;;G;0;2;B;2;1;/;0;0;;;G;0;2;B;2;1;/;1;6;;;G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;1;N;2;1;/;6;4查看分类表>
申请人	迈克尔·施韦特纳	申请人地址	德国耶拿变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	迈克尔·施韦特纳	当前权利人	迈克尔·施韦特纳
发明人	迈克尔·施韦特纳
代理机构	中国国际贸易促进委员会专利商标事务所	代理人	秦晨

摘要

本发明涉及一种用于产生光学截面图像的方法和装置。本发明允许对空间扩展物体的三维的、逐层的光学扫描，并且用于显微术，但并被限于这个领域。在所述方法中，在至少一个方向上具有周期性的照明分布(3)投影到平面(9)中，被样本(10)反射和/或散射和/或发射的荧光和/或冷光被成像到空间分辨检测器上。根据本发明，首先执行校准步骤，在校准步骤中，针对检测器(11)上的每个位置确定照明图案的局部相位和/或局部周期。在样本检测模式中，为了计算每个光学截面图像，存在两种投影到样本(10)中或样本上的照明分布，得到的强度分布再现在检测器上。投影和检测这两种照明分布的方法步骤能够根据需要重复执行，尤其是对于样本(10)的不同聚焦位置和/或不同的曝光波长，其中，在局部相位和/或局部周期的辅助下，根据捕捉的强度分布计算至少一个光学截面图像。

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