距离测量系统及计算被测物反射率的方法、装置、设备

发明专利有效专利

申请号：
CN202110769034.7
IPC分类号：G01S17/10;G01S7/48;G01N21/55
申请日期：
2021-07-07
申请人：
奥比中光科技集团股份有限公司

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著录项信息

专利名称	距离测量系统及计算被测物反射率的方法、装置、设备
申请号	CN202110769034.7	申请日期	2021-07-07
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-10-15	公开/公告号	CN113504542A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01S17/10 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01S 无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置 G01S17/00 应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统，例如，激光雷达系统〔3〕 G01S17/02 应用除无线电波外的电磁波反射的系统（G01S 17/66优先）〔3〕 G01S17/06 测定目标位置数据的系统〔3〕 G01S17/08 只用于测量距离（间接测量入G01S 17/46；有源三角测量系统入G01S 17/48；）〔3，8〕 G01S17/10 应用了断续的脉冲调制波的发射（通过测量相位测定距离的入G01S 17/32）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;S;1;7;/;1;0;;;G;0;1;S;7;/;4;8;;;G;0;1;N;2;1;/;5;5查看分类表>
申请人	奥比中光科技集团股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	奥比中光科技集团股份有限公司	当前权利人	奥比中光科技集团股份有限公司
发明人	马宣;王兆民;武万多;黄源浩;肖振中;李威
代理机构	深圳汉世知识产权代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	冷仔

摘要

本发明提供一种距离测量系统及计算被测物反射率的方法、装置、设备，包括：发射器、采集器、以及处理电路；发射器经配置以朝向被测物发射信号光束；采集器包括像素单元以及读出电路，像素单元用于对被测物反射回的信号光束中的单个光子进行响应并输出光子信号，读出电路用于接收光子信号进行处理并输出直方图；处理电路与发射器以及采集器连接，用于接收直方图计算环境光子数均值以及信号光子数，并根据信号光子数计算被测物的反射率。本发明通过监测信号光子数来计算待测物体的反射率，提供了被测物体除3D点云数据外的第四维信息，即反射率，实现了4D测量，提供更为全面的信息来表述被测物体。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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