性能试验方法、系统及其控制方法、控制装置和存储介质

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专利名称	性能试验方法、系统及其控制方法、控制装置和存储介质
申请号	CN201810036756.X	申请日期	2018-01-15
法律状态	实质审查	申报国家	暂无
公开/公告日	2018-08-17	公开/公告号	CN108414410A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N15/06 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N15/00 测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积（微生物的识别入C12Q）〔1，4，2006.01〕 G01N15/06 测试悬浮颗粒的浓度（G01N 15/04，G01N 15/10优先；用称重法入G01N 5/00）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;1;5;/;0;6查看分类表>
申请人	松下知识产权经营株式会社	申请人地址	日本大阪府变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	松下知识产权经营株式会社	当前权利人	松下知识产权经营株式会社
发明人	安池则之;中川贵司;渡部祥文
代理机构	北京林达刘知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	刘新宇

摘要

本发明涉及细颗粒物浓度测量仪的性能试验方法、系统及其控制方法、控制装置和存储介质。在该性能试验方法中，在n个不同的细颗粒物浓度下，使被检细颗粒物浓度测量仪进行细颗粒物浓度的测量，其中，n大于或等于3。由此，本发明能够可靠地试验被检细颗粒物浓度测量仪的性能。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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