一种适用于多天线测试的转接装置及其使用方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110289735.0
IPC分类号：G01R1/04;H01P3/00;H01P3/08
申请日期：
2021-03-18
申请人：
深圳大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种适用于多天线测试的转接装置及其使用方法
申请号	CN202110289735.0	申请日期	2021-03-18
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2021-05-14	公开/公告号	CN112798830A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R1/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R1/00 包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R 31/00组中的各类仪器或装置的零部件（测量电消耗量的机电装置所特有的结构零部件入G01R 11/02）〔3，8〕 G01R1/02 一般结构零部件 G01R1/04 外壳；支承构件；端子装置	IPC分类号	G;0;1;R;1;/;0;4;;;H;0;1;P;3;/;0;0;;;H;0;1;P;3;/;0;8查看分类表>
申请人	深圳大学	申请人地址	广东省深圳市南山区南海大道3688号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳大学	当前权利人	深圳大学
发明人	陈哲;洪凯东;李津;袁涛;全智
代理机构	深圳市精英专利事务所	代理人	李莹

摘要

本发明提供一种适用于多天线测试的转接装置，包括依次层叠的第一金属地板、第一介质层、第二金属地板、第二介质层和天线层，还包括金属柱组、用于向天线层所载入的天线体馈电的第一探针和用于与接头相接的第二探针；第一金属地板上设置有镂空槽，镂空槽内设置有梯度微带；梯度微带的宽度存在梯度变化，其一端与第一探针相接，另一端与第二探针相接；金属柱组中的金属柱沿着镂空槽的边依次排列；金属柱一端与第一金属地板连接，另一端与第二金属地板连接。该设计结构简单、对天线性能影响小、加工工艺简单、成本低，多个共面波导整合并共用同一第二金属地板即能够在小的测试面积及较低的费用前提下，实现测试多个天线性能，测试难度低。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供