一种钢带光栅的刻划缺陷检测装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201410803296.0
IPC分类号：G01N21/88;G01B11/00
申请日期：
2014-12-22
申请人：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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著录项信息

专利名称	一种钢带光栅的刻划缺陷检测装置
申请号	CN201410803296.0	申请日期	2014-12-22
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2015-04-22	公开/公告号	CN104535579A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/88 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;8;8;;;G;0;1;B;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	申请人地址	吉林省长春市东南湖大路3888号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	当前权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人	孙竹;孙强;吴宏圣;李灿
代理机构	长春菁华专利商标代理事务所	代理人	刘慧宇

摘要

一种钢带光栅的刻划缺陷检测装置，属于光学检测技术领域，为准确地评估钢带光栅刻划缺陷情况，该装置为：标准玻璃光栅驱动模块带动标准玻璃光栅在测量方向上滑动；信号探测头驱动模块带动信号探测头移动；光源发出的光经准直透镜准直后变成平行光，平行光经同轴光镜头照射到待测钢带光栅上，平行光被待测钢带光栅反射后经同轴光镜头透射至标准玻璃光栅上，平行光被待测钢带光栅及标准玻璃光栅调制后入射到光电探测器上，光信号经过光电探测器转为电信号，电信号被信号处理模块进行放大和A/D转换，脉冲检测模块将信号处理模块传输的电信号转化为脉冲信号。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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