首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据，仅供参考，实际以国家知识产权局展示为准

光束特性评价装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200410064490.8
IPC分类号：G03G15/04
申请日期：
1998-06-25
申请人：
株式会社理光

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	光束特性评价装置
申请号	CN200410064490.8	申请日期	1998-06-25
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2005-02-02	公开/公告号	CN1573596
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G03G15/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G03 摄影术；电影术；利用了光波以外其他波的类似技术；电记录术；全息摄影术〔4〕 G03G 电记录术；电照相；磁记录（依靠记录载体与传感器之间的相对运动存储信息入G11B；具有写入或读出信息装置的静态存储入G11C；电视信号的记录入H04N 5/76） G03G15/00 应用电荷图形的电记录工艺的设备（G03G 16/00，G03G 17/00优先）〔2，5〕 G03G15/04 曝光用的，即将原件图像光学投影到光导记录材料上而进行图像曝光〔6〕	IPC分类号	G;0;3;G;1;5;/;0;4查看分类表>
申请人	株式会社理光	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社理光	当前权利人	株式会社理光
发明人	尾崎绅一;阿部克志;高桥伸公
代理机构	永新专利商标代理有限公司	代理人	黄剑锋

摘要

本发明公开一种光束特性评价装置，光束特性评价方法的特性在于通过使对被扫描面进行线性扫描用的束光光源在与扫描过程中的单点发光相对应的扫描时间内发光的方式，对光束所需要的特性进行评价，其可正确地对光束直径或光束形状进行评价。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供