一种离子测量装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201320894366.9
IPC分类号：H01J49/04
申请日期：
2013-12-23
申请人：
聚光科技（杭州）股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种离子测量装置
申请号	CN201320894366.9	申请日期	2013-12-23
法律状态	放弃专利权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H01J49/04 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H01 基本电气元件 H01J 放电管或放电灯（火花隙入H01T；消耗电极的弧光灯入H05B；粒子加速器入H05H） H01J49/00 粒子分光仪或粒子分离管〔3〕 H01J49/02 零部件〔3〕 H01J49/04 导入或提取待分析试样的装置，如真空锁；电子光学或离子光学部件的外部调节装置〔3〕	IPC分类号	H;0;1;J;4;9;/;0;4查看分类表>
申请人	聚光科技（杭州）股份有限公司	申请人地址	浙江省杭州市滨江区滨安路760号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	聚光科技（杭州）股份有限公司	当前权利人	聚光科技（杭州）股份有限公司
发明人	张建;李纲;邓丰涛;李文
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型涉及一种离子测量装置，包括离子光学系统，所述离子光学系统包括离子透镜，其特点是：所述离子测量装置还包括与所述离子透镜相连的隔离脉冲电源，及与所述隔离脉冲电源相连的控制单元和处理单元；所述控制单元控制所述隔离脉冲电源给所述离子透镜提供电压，处理单元接收并计算从离子透镜传输的离子。本实用新型具有测量实时性好、测量误差小、成本低、测量简便等优点。

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