一种专用集成电路功能验证装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200410032726.X
IPC分类号：H04B1/707;G01R31/28
申请日期：
2004-04-16
申请人：
华为技术有限公司

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著录项信息

专利名称	一种专用集成电路功能验证装置
申请号	CN200410032726.X	申请日期	2004-04-16
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2005-10-19	公开/公告号	CN1684380
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H04B1/707 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H04 电通信技术 H04B 传输〔4〕 H04B1/00 不包含在H04B 3/00至H04B 13/00单个组中的传输系统的部件；不以所使用的传输媒介为特征区分的传输系统的部件〔4〕 H04B1/69 扩频技术〔6，2011.01〕 H04B1/707 利用直接序列调制的〔6，2011.01〕	IPC分类号	H;0;4;B;1;/;7;0;7;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	华为技术有限公司	申请人地址	广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华为技术有限公司	当前权利人	华为技术有限公司
发明人	王洋;张云
代理机构	北京德琦知识产权代理有限公司	代理人	宋志强;王琦

摘要

本发明公开了一种专用集成电路(ASIC)功能验证装置，该装置包括，数据控制模块，用于配置算法信息、源数据、期望数据；并根据其所配置的源数据和算法信息产生单信道或多信道调制数据输出至ASIC数据处理部件；接收ASIC数据处理部件发送的结果数据将其与所配置的期望数据进行比较产生验证结果；ASIC数据处理部件，接收调制数据进行扩频系统算法处理，输出结果数据至数据控制模块。采用本发明装置能够支持扩频系统中多信道调制数据算法的验证，并可大大降低验证成本，从而实现用简单灵活的方法对ASIC实现的算法功能进行验证。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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