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光电系统快速自校准用标准综合靶板和测量方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201210544321.9
  • IPC分类号:F41J5/04;G01M11/00
  • 申请日期:
    2012-12-14
  • 申请人:
    中国兵器工业第二0五研究所
著录项信息
专利名称光电系统快速自校准用标准综合靶板和测量方法
申请号CN201210544321.9申请日期2012-12-14
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2013-08-21公开/公告号CN103256862A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号F41J5/04IPC分类号F;4;1;J;5;/;0;4;;;G;0;1;M;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人中国兵器工业第二0五研究所申请人地址
陕西省西安市雁塔区电子三路西段九号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国兵器工业第二0五研究所当前权利人中国兵器工业第二0五研究所
发明人南瑶;李勤学;候春屏;贾选军;桑鹏;刘瑞星;常伟军;陈秀萍
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本发明公开了一种光电系统快速自校准用标准综合靶板及其测量方法,主要技术特点是,标准综合靶板包括基板、图案、基底、压圈,依次紧压封装在一个壳体内,图案由金属膜上刻蚀的三角形分布通孔阵列填充微纳米显示粉构成;标准综合靶板放置于被测光电系统的光学系统的远场(平行光管的焦平面上或远距离处),光电系统瞄准标准综合靶板发射激光,标准综合靶板的图案反射激光光斑图像且瞬时辐射可见光、红外的激光光斑图像,被测光电系统接收并存储数字图像,计算数字图像中通孔及三角形互补阵列的几何中心和直线长度,与理论值比对获得光电系统的数字图像校正函数、分辨率、照射精度、跟踪角速度、跟踪精度参数。

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