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面板测试治具

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201710899259.8
  • IPC分类号:G01D21/02
  • 申请日期:
    2017-09-28
  • 申请人:
    武汉华星光电半导体显示技术有限公司
著录项信息
专利名称面板测试治具
申请号CN201710899259.8申请日期2017-09-28
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2018-02-16公开/公告号CN107702747A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01D21/02IPC分类号G;0;1;D;2;1;/;0;2查看分类表>
申请人武汉华星光电半导体显示技术有限公司申请人地址
湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道666号光谷生物创新园C5栋305室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人武汉华星光电半导体显示技术有限公司当前权利人武汉华星光电半导体显示技术有限公司
发明人马业欣
代理机构广州三环专利商标代理有限公司代理人郝传鑫;熊永强
摘要
本发明提供的一种面板测试治具,包括调节组件和限位组件,调节组件至少部分安装于限位组件中,其中,限位组件包括第一表面和与第一表面相背的第二表面,第一表面上设有挡块,且开设有多个贯通第一表面和第二表面的条形孔,多个条形孔沿第一方向延伸;调节组件包括多个滑动件,多个滑动件可移动设于多个条形孔中,且伸出第一表面,调整多个滑动件在第一表面上沿第一方向相对移动,多个滑动件和挡块所限定的区域面积改变,用于固定不同尺寸的面板。通过调节伸出第一表面上的多个滑动件的相对移动,使多个滑动件和挡块所限定的区域面积改变,用于固定不同尺寸的面板,本发明的面板测试治具通用性好,可以节约制作治具的成本,提高了整体生产效率。

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