一种磁传感器测试装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201810621658.2
IPC分类号：G01V13/00
申请日期：
2018-06-15
申请人：
中国科学院地质与地球物理研究所

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种磁传感器测试装置
申请号	CN201810621658.2	申请日期	2018-06-15
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2018-11-13	公开/公告号	CN108802852A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01V13/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01V 地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物（用于指示因事故被掩埋的人的位置，例如，被雪掩埋的人的位置的装置入A63B 29/02）〔4，6〕 G01V13/00 包括在G01V 1/00至G01V 11/00各组中的仪器或设备的制造、校准、清洁或修理	IPC分类号	G;0;1;V;1;3;/;0;0查看分类表>
申请人	中国科学院地质与地球物理研究所	申请人地址	北京市朝阳区北土城西路19号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院地质与地球物理研究所	当前权利人	中国科学院地质与地球物理研究所
发明人	王中兴;张天信;底青云;裴仁忠;杨玉洁;许滔滔
代理机构	北京众达德权知识产权代理有限公司	代理人	刘杰

摘要

本发明公开了一种磁传感器测试装置，包括：屏蔽筒，固定在屏蔽筒支撑架上，用于屏蔽外界磁场的信号；屏蔽筒支撑架，用于支撑屏蔽筒，保证测试装置稳定；无磁线圈，用于在屏蔽筒内提供模拟磁场；无磁导轨，与传动装置相连，从屏蔽筒外部通过筒口延伸至屏蔽筒内部，用于传送待测磁传感器；传动装置，用于传动无磁导轨；控制装置，用于接受测试数据，并对传动装置发送控制指令。通过本发明所述磁传感器测试装置，解决了传感器位置变动对测试结果带来的影响，并提升了测试结果的重复一致性，改善了测试效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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