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一种测试系统、测试方法、测试模块以及光网络单元ONU

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201911101780.8
  • IPC分类号:H04Q11/00;H04B10/25;H04B10/071;H04B10/079
  • 申请日期:
    2019-11-12
  • 申请人:
    华为技术有限公司
著录项信息
专利名称一种测试系统、测试方法、测试模块以及光网络单元ONU
申请号CN201911101780.8申请日期2019-11-12
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-05-28公开/公告号CN112866832A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H04Q11/00IPC分类号H;0;4;Q;1;1;/;0;0;;;H;0;4;B;1;0;/;2;5;;;H;0;4;B;1;0;/;0;7;1;;;H;0;4;B;1;0;/;0;7;9查看分类表>
申请人华为技术有限公司申请人地址
广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人华为技术有限公司当前权利人华为技术有限公司
发明人杨素林;王海丽;熊伟
代理机构深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙)代理人吴磊
摘要
本申请公开了一种测试系统,包括测试模块和ONU,测试模块包括第一电接口、第一光接口、第二光接口和测试组件,第一电接口和ONU的第二电接口连接,第一光接口和ONU的数据光组件的第三光接口连接,第二光接口和ODN连接。ONU通过第二电接口控制测试模块进行OTDR测试。本申请实施例还提供相应的测试方法、测试模块和ONU。本申请技术方案通过将OTDR功能从ONU中解耦出来作为独立的测试模块,使得支持OTDR测试功能的ONU的数据光组件可以直接使用双向光组件,降低实际应用过程中ONU数据光组件的成本以及多样性,进而降低ONU支持OTDR功能的沉没成本。

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