永磁体自动分类装置

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本发明涉及一种磁体分类装置，用于测量切割成任意形状和大小的软硬 磁体并根据测量结果对磁体自动分类。\n可在市场上获得的磁体由于磁性材料的特性存在细微差异，于是在磁化 状态具有各种表面磁通密度。在耳机、激光唱机(CDP)致动器这样的装置中 采用没经分类的磁体，是导致这些装置质量下降的一个因素。因此，需要采 用特性一致的磁体。\n图1是测量磁性材料特性线路的线路示意图。\n所示线路中，线圈N1和N2两端感应产生的电压V1和V2可由下列公 式得出： $V1=-N1A\frac{\mathrm{dH}}{\mathrm{dt}}············\left(1\right)$ $V2=-N1A\frac{\mathrm{dH}}{\mathrm{dt}}+N2A\frac{\mathrm{dM}}{\mathrm{dt}}·········\left(2\right)$ $V0=V1+V2=(N2-N1)A\frac{\mathrm{dH}}{\mathrm{dt}}+N2\mathrm{Am}\frac{\mathrm{dM}}{\mathrm{dt}}·········\left(3\right)$\n在N1＝N2的情况下，上式(3)可以表示成： $V0=V1+V2=N2\mathrm{Am}\frac{\mathrm{dM}}{\mathrm{dt}}$ $\frac{\mathrm{dM}}{\mathrm{dt}}=\frac{V0}{N2\mathrm{Am}}$\n将上式的两部分对t求积分，得到下式： $\int \mathrm{dM}=\int$$\frac{V0}{N2\mathrm{Am}}\mathrm{dt}$\n就是说，通过对信号V0积分可以得到由线圈N2所缠绕的磁体的定量 的磁化强度M。\n将公式(1)对t积分后进行整理，得到下式： $\int \mathrm{dH}=-\int \frac{V1}{N1A}\mathrm{dt}$ 就是说，通过对V0积分可以得到每一个磁场的外部磁场强度H。 由于公式(2)相应于施加脉冲之前的状态，所以，dH/dt为零(dH/dt＝0)。 因此，可以得到下式： $m0\left(j0\right)=\int \frac{v2}{N2\mathrm{Am}}\mathrm{dt}$\n根据公式(4)和(5)的结果划出M-H曲线，可以得到图2所示的iHc曲线。\n由于B＝H+M，所以，通过把公式(4)和(5)的结果相加可以得到B的 数值。根据相加计算的结果和公式(4)的结果划出B-H曲线，可以得到图2所 示的bHc曲线。\n在以上公式中：\nV1、V2：各个线圈感应产生的电压，\nV0：V1和V2，\nA：每个线圈的横截面面积，\nAm：磁体的横截面面积，\nN1、N2：各个线圈的匝数，\nM：磁体的定量磁化强度，\nH：外部磁场的强度，\nt：时间，和\nM0(J0)：磁体的初始定量磁化强度(剩余磁通密度Br)。\n参考以上各公式，可以发现在一般的磁性材料中，在外加磁场和磁体的 定量磁化(自发磁化)之间会产生磁滞现象。\n图2是磁滞回线的曲线图，表示的只是其第二象限的曲线。\n对应于外加磁场与磁体产生的磁力线方向相反的情况，通过分析磁滞回 线第二象限的特性，可以知道磁体的特性(在硬磁体中，可以获得更为有益的 结果)。\n在图2中，iHc曲线表示“磁体自身的定量磁化强度”与外部磁场H的 关系，而bHc曲线则表示把磁体自身特性和外加磁场两者加以考虑所得出的 关于外部磁场H的特性。\n磁体的磁通密度取决于磁体的形状及其周围的环境。\n考虑上述条件后所确定的线是磁导线(以下称为“P线”)。这些线在图2 中表示为线P1和P2。\n磁体产生的磁通密度与bHc曲线和P线相交点处的B值相对应。例如， 如果假设线P1是无磁轭磁体状态下的P线，则磁体产生的磁通密度与B1相 对应。\n在象电动机或扬声器这样的装置上采用磁体的时候，通常是把磁轭附装 在磁体上使P线更接近B轴，由此来增加表面磁通密度。假设图2中的线P2 是这种情况下的P线，则磁体产生的磁通密度与B2相对应。即磁通密度由 B1增加到B2。\n在图2中，iHc曲线和bHc曲线与H轴的交点处的H值分别表示iHc 曲线和bHc曲线的矫顽力。它们分别由iHc和bHc表示。\n一般来说，特性均匀一致的磁体的评价和分类是这样实现的，先采用测 量仪器在无磁轭状态或附装有磁轭的状态下对每一个磁体的表面磁通密度和 磁通进行人工测量，然后确定在磁滞回线上与测量值相对应的一个或两个点 上的特征值，并把它们作为每个磁体的总的特征值。\n由于上述常规方法只采用每个磁体磁滞回线上的一两个点对该磁体进 行评价和分类，所以，该磁体的表面磁场强度与表面磁场强度B2可能存在 相当大的差异。这是因为P线上只有数值B1是按照常规方法测量得到的。\n作为测量手段，在市场上可以买到精密的测量仪器。然而，这些测量仪 器不能用于质量控制，因为它们的处理速度慢(测量要花费一两天)而且可适 用的磁场低，例如20KOe。在测量完成之后分类工作也要人工进行。因此降 低了分类的效率。\n因此，本发明的目的是解决上述已有技术所存在的问题，从而提供一种 磁体自动分类装置，它能够根据磁体磁滞回线第二象限的所有点通过测量和 分析每个磁体的特性并对测量和分析的特性作出评价从磁体中只分出所需要 的磁体，而且能够减少测量时间并由此提高测量和分类的效率。\n根据本发明，这一目的能够通过提供一种永磁体自动分类装置来实现， 该装置包括：一个供给装置，安装在上部平台并在其中存放多个磁化样品； 一个输送装置，安装在上部平台上并把存放在供给装置中的样品一个一个地 分离出来和输送走；一个测试装置，安装在上部平台和设在上部平台下面的 底部平台之间，测试装置包括：一个初级探测线圈，用于检测在每一个样品 通过时所感应产生的电压，并根据所检测的电压测量初始磁化强度的值；一 个次级探测线圈，用于检测在向每一个送来的样品反向施加外部磁场时所感 应产生的电压，并根据所检测的电压测量定量磁化强度的变化；一个第三探 测线圈，位于次级探测线圈的一侧，用于检测由外部磁场所感应产生的电压， 并由此测量外部磁场强度的变化；一个外部磁场施加线圈，围绕次级和第三 探测线圈，用于在测试时向送来的样品施加脉冲形式的外部磁场；一个卸放 装置，安装在测试装置下面的底部平台上并与测试装置相连通，卸放装置用 于卸放在测试装置中测试过的每一个样品；一个分类装置，用于根据测试结 果对从卸放装置卸下来的每一个样品进行分类；和一个存放装置，用于接收 经分类装置分类过的每一个样品并把它们存放在里面。\n参照附图，通过下述对实施例的说明，本发明的其它目的和方面将变得 浅显易懂，其中：\n图1是磁性材料特性测量线路的线路示意图；\n图2是磁滞回线的曲线图，只表明其第二象限部分的曲线；\n图3是根据本发明的磁体自动分类装置的透视图；\n图4是图3所示装置的正视图，表明安装在分类装置某一部分的送料 器；\n图5是表明包括在图3所示装置中的供给装置和输送装置的剖视图；\n图6是表明包括在图3所示装置中的测试装置和卸放装置的剖视图；\n图7是沿图3的A-A线所取的横剖面视图；\n图8是表明包括在图3所示装置中的分类装置和存放装置的剖视图；\n图9是图8所示的分类装置的透视图；\n图10是表明根据本发明的图3所示装置的整个操作的流程图。\n图3是按照本发明的永磁体自动分类装置的透视图。\n本发明的装置包括六个基本组成部分，即供给装置、输送装置、测试装 置、卸放装置、分类装置和存放装置。由于本发明的装置适合于测试磁化的 磁体，所以，与磁体接触的部件是用非磁性材料制成的。\n分类装置的供给装置表示于图3到图5中。供给装置包括一个样品贮放 管2，用于以成捆的方式贮放多个有待测试的磁体样品1。在样品贮放管2 的下端固定有一块座板3。座板3有一个样品供给通道3a供一捆待测试样品 1从中通过。\n样品1在样品贮放管2中是这样排放的，即使每个样品的上下端分别与 南北极相对应。这样排放适合于通过磁性吸引力实现样品的自动输送。当一 捆样品1通过样品供给通道3a输送结束时，从样品贮放管2中释放出来的样 品捆的最上端位于向样品贮放管2敞开的样品供给通道3a的上端。由于所释 放的样品捆的最上端对应的是南极，所以，通过相互之间产生的磁性吸引力， 它吸引着放置在所释放的样品捆相邻位置上的其中一个样品捆的最下端即北 极。因此，叠放在样品贮放管2中的样品捆能够顺序地输送到下一个装置。\n如图5所示，底板3在其上表面可以装有一个引导表面3b，该表面朝 向样品供给通道3a向下倾斜。当与正在送出的样品捆相邻的一捆样品受到该 送出样品捆的吸引力作用时，这一样品捆就会沿座板3的倾斜引导表面3b 滑入样品供给通道3a。因此更便于样品的输送。\n在最初送至供给装置的是未经磁化的样品的情况下，在把它们贮放在样 品贮放管2之前应进行磁化。为此，如图4所示，配备了一个送料器4向供 给装置的一侧连续输送未经磁化的样品。在样品贮放管2的上端还装有一个 供料导引装置5。供料导引装置5与送料器4的终端相连。在供料导引装置 5的上端装有一个临近传感器6。围绕供料导引装置5上部安置有磁化线圈 7，用于在预定间隔向供料导引装置5的内部提供脉冲磁场。当供料导引装 置5中没有待磁化样品时，临近传感器6探测到这种情况并停止分类装置的 测试操作。同时，临近传感器6启动送料器4以便向供料导引装置5输送未 经磁化的样品。\n样品供给管8在其上端与设置在座板3内的样品供给通道3a的下端相 接。样品供给管8与样品供给通道3a相通并由样品供给通道3a向下延伸， 以便输送与样品供给通道3a的高度相对应的预定数量的样品。\n另一方面，输送装置包括一块固定板9，样品供给管8的下端就固定安 装在板9上。固定板9固定安装在一个上部平台10上并通过隔板11与上部 平台10隔开一预定距离。如图5所示，在固定板9的一侧，装有一个滑块 12，滑块12具有一个样品分离孔12a并能在其伸展位置和退回位置之间沿 平台10移动。\n一块样品分隔板13可拆卸地安装在滑块12上。样品分隔板13有一个 孔13a，这个孔与滑块12的样品分离孔12a对准。\n滑块12与第一汽缸16的活塞杆相连，汽缸16通过托座15固定到上部 平台10上。靠第一汽缸16的每个冲程，在样品通过固定板9和上部平台10 之间所限定的空间时，滑块12把在其样品分离孔12a中接收到的样品从中分 离。\n样品分隔板13在其上表面与固定板9的下表面相接触，而且在其两个 侧面分别与隔板11接触。样品分隔板13还有一个与固定板9的下表面相接 触的上表面。为了给滑块12的滑动导向，上部平台10有分别从其两侧边缘 伸出的导向部分10a。\n在上部平台10的与支撑滑块12的一侧相对的一侧上，有一个样品进给 板17可拆卸地安装在上部平台10上。样品进给板17有一个样品进给通道 17a，其直径大于样品直径。\n样品供给管8、隔板11、样品分隔板13和样品进给板17都是可更换 的，以便与被测样品的直径和厚度相适应。\n图6是表明根据本发明的测试装置和卸放装置的剖视图。\n如图6所示，样品进给管18在其上端用螺纹连接到上部平台10上以便 对准样品进给通道17a。样品进给管18的下端通过夹紧机构固定地安装到将 上部平台10支撑在底部平台19上的支撑杆20a上。\n夹紧机构包括一个由螺栓21和螺母22、U型螺栓24和螺母25夹紧的 夹持棒23。\n围绕样品进给管18的上部安装有初级探测线圈26。初级探测线圈26 的作用是检测样品通过样品进给管18时所感应产生的电压，以便根据所检测 的电压测量初始磁化强度的数值。\n围绕样品进给管18的下端装有次级探测线圈27，其作用是检测外加磁 场反向施加于进给样品时所感应产生的电压，以便根据所检测的电压测量定 量磁化强度的变化。\n在次级探测线圈27的一侧装有第三探测线圈28，其作用是检测由外加 磁场感应产生的电压，从而推导出磁场强度。\n还设置一个围绕次级线圈27和第三探测线圈28的外磁场施加线圈29。 外磁场施加线圈29在测试样品时向样品施加脉冲外部磁场。\n第二和第三探测线圈27和28由外磁场施加线圈29支撑，线圈29又借 助于箍47装到固定地安装在底部平台19上的固定杆30上。\n在一个已知的积分线路或公知的计算机中对初级、次级和第三探测线圈 26、27和28所检测的电压就其波形相对时间进行积分运算处理。根据积分 运算的结果可以确定样品的特性，如剩余磁通密度、恒定磁力和最大能量总 和等。\n对于用计算机对电压进行积分运算的情况，计算机在预定时间间隔内通 过数模转换器接收信号值，将每个信号的幅值与时间间隔相乘，并累计得出 总值。对于采用积分线路的情况，每次检测的数值与积分至该时刻得出的数 值相对应。\n还可以想到采用半导体装置或可编程逻辑控制器(PLC)就波形相对时间 进行积分运算。\n现在说明用于卸放如上测试样品的卸放装置的构造。\n卸放装置包括一个旋转杆31，其可旋转地安装在底部平台19上，如图 6所示。旋转杆31中有一个样品卸放通道31a，通道31a应这样安排，即在 旋转杆31的初始位置上，通道31a不对准样品进给管18。通过样品进给管 18输送的样品1开始时是在旋转杆31的上表面上，以便能够对样品进行测 试。\n旋转杆31的上部由夹持棒32支撑，支持棒32固定安装在支撑杆20a 上。另一方面，旋转杆31的下端可转动地安装在轴承33上，轴承33固定地 安装在底部平台19上。\n如图3所示，在旋转杆31底部的周围配有齿轮34，它与旋转杆31作 成一体。当每一个样品完成测试操作时，齿轮34旋转旋转杆31转过180°， 以便使样品卸放通道31a能够对准样品进给管18，由此使被测样品通过样品 卸放通道31a被卸放。在齿轮34的一侧，齿条35与其相互啮合。通过齿条 35的往复运动，旋转杆31产生旋转。齿条35与第二汽缸37的往复活塞杆 相连。第二汽缸37固定安装到托座36上，托座36又固定安装在底部平台 19上。\n如图7所示，齿条35在其与齿条的齿相对的一侧有一个伸出的引导突 起物35a。导轨38也固定地安装在底部平台19上。齿条35的引导突起物 35a与导轨38滑动接触，使齿条35能够沿导轨38滑动。采用这样的引导结 构，就能使齿条35在第二汽缸37工作时稳定地往复运动。\n最好是旋转杆31由具有非磁特性的合成树脂制成，而齿轮34由金属材 料制成，如不锈钢。采用非磁性的合成树脂制造旋转杆31的原因是防止样品 的磁特性干扰样品的平滑输送。另一方面，采用不锈钢制作齿轮34的原因是 在反复使用很长一段时间以后，齿轮34也不会磨损。\n一个卸放管39固定于底部平台19并在竖向对准测试装置的样品进给管 18。当旋转杆31旋转180°使样品卸放通道31a对准样品进给管18时，卸 放管39对准样品卸放通道31a。其结果是，样品进给管18，样品卸放通道 31a和卸放管39彼此对准，由此使被测试样品通过样品卸放通道31a和卸放 管39卸放到外面。\n图8是根据本发明的分类装置和存放装置的剖视图。\n如图8所示，分类装置能够根据所测量的样品特性实现样品的分类操 作，它包括一个选择弯管(selection hood)40，弯管40在其上端可绕枢轴转动 地与卸放装置的卸放管39相接。选择弯管40通过一个弹簧41在其上部与底 部平台19相接。选择弯管40还可绕枢轴转动地与第三汽缸42的往复活塞杆 相接。采用这样一种结构，选择弯管40就能够反抗弹簧41的弹力，通过第 三汽缸42的活塞杆的往复运动而绕框轴转动。第三汽缸42是根据测试装置 所实现的测量结果进行驱动的。第三汽缸42的驱动先于转动旋转杆31卸放 被测样品进行。\n在第三汽缸42的外表面装有一对隔开的发光二极管(LED)43。发光二极 管LED43根据选择弯管40的位置有选择地发光，选择弯管40的运动是通 过驱动第三汽缸42来实现的，由此使用者用肉眼就能看出选择弯管40的位 置。\n现在说明存放装置的结构，存放装置用于从分类装置的选择弯管40接 收分完类的样品并将它们存放起来。\n存放装置包括一个容器44，其为箱结构且上端开口。容器44位于选择 弯管40的下面。在容器44中，装有一对分开的分类箱45。每个分类箱45 上端开口而且有一些小孔45a。在容器44中还装有温度保持在250℃到450 ℃之间的油。在每个分类箱45上弄一些小孔45a是为了使油46能够进入分 类箱45。此外，在容器44中装入250到450℃的油46是为了防止每个经过 测试的样品受到其磁力的影响，由此防止在样品落入分类箱45中的时候由于 相互产生吸引而与已装入相应分类箱45的样品发生碰撞并破裂。\n通过上述说明已经清楚，本发明所构成的分类装置的样品贮放管2在初 始状态贮放有若干捆样品捆，每个样品捆的每个样品通过样品供给管8输送 到样品分离孔12a中，然后在样品分离孔12a中装有一个样品的条件下开始 分类操作。现在就说明分类装置的分类操作。\n图10是说明根据本发明的分类装置操作的流程图。\n当安装在分类装置一侧的送料器4在还没有任何磁化样品装入样品贮放 管2中的条件下工作时，非磁化样品从送料器4顺序输送到供给操纵装置5 中，然后将样品成行地叠放在供给操纵装置5中。\n当传感器(没有示出)检测到输送给供给操纵装置5的样品数量为N时， 向磁化线圈7施加一个磁化信号，磁化线圈7再产生脉冲信号磁化样品。其 结果是样品被磁化。\n在上述非磁化样品先磁化后进行测试，或者在测试磁化样品的情况下， 样品以成捆的方式装入样品贮放管2中，并使每一捆中的每一个样品的上端 是S极，下端是N极。\n然后，由于重力作用，一个样品捆的下部从样品贮放管2通过装在其下 端的样品供给通道3a自动进入样品供给管8。当样品捆的下部位于样品供给 管8中时，其最下面的样品进入滑块12的样品分离孔12a。在样品装入样品 分离孔12a之后，开始测试操作。\n也就是在上述条件下驱动固定安装在托座15上的第一汽缸16，使滑块 12移到在图5中由虚线表示的左边位置。通过滑动器12这个向左移动，装 入样品分离孔12a中的样品与位于样品供给管8中的样品捆分开。在样品捆 的最下面的样品被分离开的时候，样品捆的其余样品没有移走，这是因为在 上面紧挨着被分离开的最下面的样品的样品被样品分隔板13的上表面支撑 住。\n当滑块12到达其左边位置时，样品分离孔12a对准样品进给板17的样 品进给通道17a，由此使装入样品分离孔12a中的样品在重力作用下落入样 品进给管18。\n在通过样品进给通道17a向样品进给管18输送一个被分离的样品完成 以后，第一汽缸16回到其原来状态，使滑块12回到初始位置，即它的右边 位置。\n当滑块到达其右边位置时，样品分离孔12a对准样品供给管8。其结果 是装在样品供给管8中的样品捆在重力作用下朝着样品分离孔12a向下移 动，从而使样品捆中其余样品的最下面一个进入样品分离孔12a。\n通过滑块12的反复移动，样品捆的其余样品顺序进入样品进给管18。 当通过样品供给通道3a完成样品捆的输送的时候，由样品贮放管2卸放出来 的样品捆的最上一个样品的上表面与座板3的上表面齐平。由于最上一个样 品的上表面对应的是S极，所以，通过彼此之间产生的磁性吸引力，这个样 品的上表面吸引着紧挨着这个样品所在样品捆的样品捆的最下面的样品的下 表面，即N极。其结果是被吸引的样品捆竖向对准已被卸放的样品捆。根据 本发明的这个原理，装在样品贮放管2中的样品捆能够顺序送入样品进给管 18。\n当样品捆中紧挨着正的卸放的样品捆的一捆被卸放的样品捆吸引时，这 捆样品在重力作用下沿座板3的倾斜引导表面3b滑入样品供给通道3a。因 此，样品的输送更容易进行。\n当一个样品通过输送装置的操作由供给装置落入样品进给管18的时 候，这个样品通过绕在样品进给管18上部的初级探测线圈26，如图6所示。 初级探测线圈26检测样品通过样品进给管18时感应产生的电压，并根据检 测的电压测量出初始的磁化强度值，即样品的剩余磁通密度Br。初级探测线 圈26感应产生的电压在一个周期里基本是正弦波形。因此，剩余磁通密度通 过采用一个积分线路或一个计算机对正或负波形关于时间积分就能够得出。\n当测量过其剩余磁通密度的样品到达样品进给管18的下端时，由于旋 转杆31保持在样品卸放通道31a与样品进给管18有180°相位差的位置上， 所以，这个样品就落在了旋转杆31的上表面上。\n在这个状态，外部磁场施加线圈29向在旋转杆31上面的样品施加反向 磁场。次级探测线圈27检测由施加的反向磁场引起的样品的定量磁化强度以 电压形式的变化。因此，样品的定量磁化强度的变化如上述测量剩余磁通密 度的情况一样，通过对电压进行积分而得出。\n在如上测量样品的特性时，绕在样品进给管18下部的外部磁场施加线 圈29产生一个脉冲电压以向样品施加磁场。第三探测线圈28位于次级探测 线圈27的一侧并由外部磁场施加线圈29所围绕，第三探测线圈28用于检测 由外部磁场施加线圈29从外部所施加的磁场的强度。\n由于外部磁场是以脉冲(约1,000到10,000微秒)的形式施加的，所以， 测量所花时间很短，这样处理速度很高。其结果是能够建立一个高强度，例 如不低于30KOe的磁场。\n在测试装置完成对一个样品特性的测量之后，计算机分析测量结果并根 据分析结果对样品分类。\n为了对样品进行分类，根据计算机的分析结果驱动第三汽缸42。通过 驱动第三汽缸42，与卸放管39相连的选择弯管40绕枢轴运动，以使选择弯 管40的出口位于装在容器44中的分类箱45中所选择的一个的上面。\n此时与选择弯管40的选择分类位置相对应的LED43中的一个发光。因 此，使用者用眼睛就可以看见样品是被分为好的一类还是坏的一类。\n在选择弯管40绕枢轴运动到由测试结果决定的选择分类位置以后，驱 动第二汽缸37，其由托座36固定安装到底部平台19上。通过驱动第二汽缸 37，与第二汽缸37的活塞杆相连的齿条35沿导轨38滑动，由此使与齿条 35啮合的齿轮34转动。由于齿条35由导轨38引导，所以，齿条35的滑动 能够平稳进行。齿条35的滑行长度应由旋转杆31的直径精确确定，从而使 齿轮34和旋转杆31能够旋转180°。\n当旋转杆31通过齿条35的滑动从图7所示位置转过180°之后，旋转 杆31的样品卸放通道31a竖向对准样品进给管18和卸放管39。其结果是位 于样品进给管18下端的样品经样品卸放通道31a、卸放管39以及选择弯管 40向外卸放，最后进入选择的分类箱45。\n此后，第二汽缸37和第三汽缸42分别回到原来状态。其结果是样品卸 放通道31a与样品进给管18再次产生180°的相位差，而选择弯管40的出 口却保持在第一分类箱45的上方。\n由于在容器44中装有250到450℃的油46，所以，能够使样品免受其 磁性力的影响，并由此防止在样品落入分类箱45的时候因彼此产生的吸引力 而与已装入分类箱45的样品发生碰撞并破裂。\n以上就按照本发明的分类装置的一个操作周期进行了说明，这个周期所 包括的步骤有通过输送装置将一个样品从存放在供给装置中的众多样品分离 开，将这个样品送到测试装置，对其进行测试，并对其进行好坏分类，然后 装入容器。本领域的普通技术人员都知道以上操作应重复进行直到贮放在样 品贮放管2中的所有样品都分类完毕。\n以上的说明清楚地表明本发明具有以下优点。\n第一，由于测试每一个磁体时所施加的磁场是脉冲磁场，所以可以得到 高强度的磁场而不会使所使用的脉冲发生器过载。\n第二，采用脉冲磁场使得测量所花时间很短，这样处理速度很高。\n第三，采用了根据本发明进行过分类的磁体的装置质量稳定，这是因为 每一个磁体的所有特性都经过评价。\n第四，由于所要测试和分类的磁体的形状是块状，然后再将其切割成使 用所需的大小，所以，能够减少测量所花时间并使质量一致。\n第五，由于磁体在切割成具体使用时所需的形状以前，其测试时无需为 了测试对其形状进行任何加工，所以，极大地减少了加工磁体所花的时间。\n第六，由于测量和分类是同时实现的，所以能够提高测量和分类的效 率。\n虽然为了说明清楚起见披露的是本发明一些最佳实施例，但是本领域普 通技术人员都知道，在不离开由附带的权利要求书所记载的本发明的范围和 精神实质的情况下，能够进行各种变化，增加一些东西和进行替换。\n例如，在所说明的本发明的最佳实施例中，采用一对LED和一对分类 箱以把样品分为两类，即好的一类和坏的一类。但是为了满足更详细分类的 需要，可以采用更多的LED和分类箱。