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纳米结构体阵列、氢检测用元件及氢检测装置

发明专利有效专利

申请号：
CN202010097888.0
IPC分类号：G01N21/552
申请日期：
2020-02-17
申请人：
国立大学法人横浜国立大学;东京应化工业株式会社

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	纳米结构体阵列、氢检测用元件及氢检测装置
申请号	CN202010097888.0	申请日期	2020-02-17
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-08-28	公开/公告号	CN111595825A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/552 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/55 镜面反射率〔3，2014.01〕 G01N21/552 衰减全反射〔2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;5;5;2查看分类表>
申请人	国立大学法人横浜国立大学;东京应化工业株式会社	申请人地址	日本神奈川县变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	国立大学法人横浜国立大学,东京应化工业株式会社	当前权利人	国立大学法人横浜国立大学,东京应化工业株式会社
发明人	西岛喜明;冈崎慎司;红贵朗;山作直贵;岩井武
代理机构	北京市金杜律师事务所	代理人	暂无

摘要

本发明涉及纳米结构体阵列、氢检测用元件及氢检测装置。纳米结构体阵列，其具备基体、和形成于该基体上的纳米结构体，且所述纳米结构体阵列排列有多个上述纳米结构体，上述纳米结构体由存在表面等离振子、且具有吸藏及释放氢的性质的金属形成，上述基体由与氢反应而从导体可逆地向电介质变化的氢响应性材料形成，通过入射至上述纳米结构体的光而发生表面等离振子共振。

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