用于计算机断层扫描中的散射校正的信号处理方法及成像系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201610071120.X
IPC分类号：A61B6/00;A61B6/03
申请日期：
2016-02-01
申请人：
通用电气公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	用于计算机断层扫描中的散射校正的信号处理方法及成像系统
申请号	CN201610071120.X	申请日期	2016-02-01
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2017-08-08	公开/公告号	CN107019518A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	A61B6/00 ? IPC结构图谱： A 人类生活必需 A6 保健；救生；娱乐 A61 医学或兽医学；卫生学 A61B 诊断；外科；鉴定（分析生物材料入G01N，如G01N33/48） A61B6/00 用于放射诊断的仪器，如与放射治疗设备相结合的（应用在核医疗学方面的测量辐射强度的仪器，如在体内计数的入G01T1/161；用于X光摄影的设备入G03B42/02）	IPC分类号	A;6;1;B;6;/;0;0;;;A;6;1;B;6;/;0;3查看分类表>
申请人	通用电气公司	申请人地址	美国纽约州变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	通用电气公司	当前权利人	通用电气公司
发明人	芮雪;吴明烨;金燕南;彼得·迈克尔·埃迪克;布鲁诺·克里斯蒂安·伯纳德·德曼
代理机构	上海专利商标事务所有限公司	代理人	侯颖媖

摘要

本发明公开了信号处理方法，其包括探测穿过包括多种材料的物体的X射线的总强度；获得多种材料的基础材料信息以及物体的光电吸收基础成分和康普顿散射基础成分的基础成分信息中的至少一组基础信息；根据至少一组基础信息和探测到的总强度来估算探测到的X射线的散射强度分量；及根据探测到的总强度和估算出的散射强度分量来获得入射到探测器上的初级X射线的强度估算值。本发明还公开了使用上述信号处理方法的成像系统。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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